一种判断硅质页岩是否为深水微生物席的岩化产物的方法技术

技术编号:43492080 阅读:19 留言:0更新日期:2024-11-29 17:01
本发明专利技术提供了一种判断硅质页岩是否为深水微生物席的岩化产物的方法。该方法包括:确定目标硅质页岩是否存在特征1‑3中的至少一个,如果是,则其为深水微生物席的岩化产物;特征1:Ⅰ大类岩石微域占主导,Ⅱ、Ⅲ大类岩石微域散布在Ⅰ大类岩石微域中;特征2:由具有孔隙的微‑纳米石英颗粒的聚合体组成岩石骨架,具有富蜂窝状纳米孔的有机质分布在岩石骨架间;特征3:以具有孔隙的微‑纳米石英颗粒的聚合体占主导组成岩石骨架,具有无孔隙的微米石英颗粒以及位于其表面的具有孔隙的纳米石英颗粒与黏土的复合体,具有Ⅱ大类岩石微域。若硅质页岩为深水微生物席的岩化产物则指示硅质页岩所在区域为页岩气甜点区,具有高勘探开发潜力。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种判断硅质页岩是否为深水微生物席的岩化产物的方法


技术介绍

1、页岩气储层岩相类型多样,包括硅质页岩、碳酸盐质页岩、黏土质页岩、混合质页岩等。其中,硅质页岩是页岩气甜点段的主要岩相类型。勘探开发证实,硅质页岩中的页岩气水平井的产量变化大,表现为硅质页岩厚度大小与产气量高低没有对应关系、硅质页岩厚度相近的相邻井产气量相差悬殊、规模开发的气田生产特征不相同,这些现象表明作为优质储层的硅质页岩的岩石学特征差异较大。现阶段页岩气储层的研究主要集中在页岩岩相划分和不同岩相的岩石学特征描述与沉积环境分析方面,缺乏对具有不同岩石学特征的硅质页岩的岩石学表征及沉积环境分析。目前,亟需开展具有不同岩石学特征的硅质页岩的岩石学表征研究,明确具有不同岩石学特征的硅质页岩的分布规律,明确具有不同岩石学特征的硅质页岩的分布范围,明确作为优质储层的硅质页岩的岩石学特征,优选页岩气甜点区,从而实现页岩气的高效勘探开发。

2、现阶段,页岩的岩相划分和岩石学特征描述普遍依赖全岩分析数据和总有机碳测试数据,沉积环境的分析依赖无机地球化学测试数据。以这些分析化验数本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种判断硅质页岩是否为深水微生物席的岩化产物的方法,包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其中,获取目标硅质页岩,包括:

3.根据权利要求1所述的方法,其中,确定目标硅质页岩是否存在特征1、特征2、特征3这3个特征中的至少一个包括:

4.根据权利要求3所述的方法,其中,采集得到的目标硅质页岩的氩离子抛光片的MAPS岩石图像数据体的分辨率为4-10nm分辨率。

5.根据权利要求3所述的方法,其中,

6.根据权利要求3所述的方法,其中,采集目标硅质页岩的氩离子抛光片的MAPS岩石图像数据体包括:在目标硅质页岩的氩离子抛光片的抛光...

【技术特征摘要】

1.一种判断硅质页岩是否为深水微生物席的岩化产物的方法,包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其中,获取目标硅质页岩,包括:

3.根据权利要求1所述的方法,其中,确定目标硅质页岩是否存在特征1、特征2、特征3这3个特征中的至少一个包括:

4.根据权利要求3所述的方法,其中,采集得到的目标硅质页岩的氩离子抛光片的maps岩石图像数据体的分辨率为4-10nm分辨率。

5.根据权利要求3所述的方法,其中,

6.根据权利要求3所述的方法,其中,采集目标硅质页岩的氩离子抛光片的maps岩石图像数据体包括:在目标硅质页岩的氩离子抛光...

【专利技术属性】
技术研发人员:周晓峰李熙哲郭伟梁萍萍于均民
申请(专利权)人:中国石油大学北京
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1