【技术实现步骤摘要】
本申请涉及性能测试领域,尤其涉及性能测试设备和性能测试系统。
技术介绍
1、混合信号芯片是一种集成有数字电路和模拟电路的集成电路。常见的混合信号芯片包括音频功率放大器(audio pa)、模数转换器(analog-to-digital converter,adc)和数模转换器(digital-to-analog converter,dac)等或集成上述模块的片上系统(systemon chip,soc)。
2、在量产测试中,需要对每一颗混合信号芯片的动态性能进行测试,以剔除不符合设计规格的缺陷芯片。通常需要测试的参数包括总谐波失真(total harmonicdistortion,thd)、信噪比(signal-to-noise ratio,snr)和总谐波失真加噪声(thd+n)等。一般是利用任意波形发生器(arbitrary waveform generator,awg)板卡和数字化仪(digitizer)板卡实现性能测试,这两种板卡均使用现场可编程门阵列(fieldprogrammable gate array,fpg
...【技术保护点】
1.一种性能测试设备,其特征在于,包括微控制单元、直接数字频率合成器和模数转换器,其中:
2.根据权利要求1所述的性能测试设备,其特征在于,所述性能测试设备还包括椭圆滤波器,其中:
3.根据权利要求2所述的性能测试设备,其特征在于,所述激励信号为差分激励信号;所述椭圆滤波器包括相对称的两个多阶椭圆型低通滤波器,其中:
4.根据权利要求1所述的性能测试设备,其特征在于,所述性能测试设备还包括信号放大器,其中:
5.根据权利要求4所述的性能测试设备,其特征在于,所述激励信号为差分激励信号;所述信号放大器包括两级运算放大器,其
6...
【技术特征摘要】
1.一种性能测试设备,其特征在于,包括微控制单元、直接数字频率合成器和模数转换器,其中:
2.根据权利要求1所述的性能测试设备,其特征在于,所述性能测试设备还包括椭圆滤波器,其中:
3.根据权利要求2所述的性能测试设备,其特征在于,所述激励信号为差分激励信号;所述椭圆滤波器包括相对称的两个多阶椭圆型低通滤波器,其中:
4.根据权利要求1所述的性能测试设备,其特征在于,所述性能测试设备还包括信号放大器,其中:
5.根据权利要求4所述的性能测试设备,其特征在于,所述激励信号为差分激励信号;所述信号放大器包括两级运算放大器,其中:
6.根据权利要求4所述的性能测试设备,...
【专利技术属性】
技术研发人员:杨伟鹏,郑广德,王庚,刘嘉明,杨新鹏,钟文建,
申请(专利权)人:深圳英集芯科技股份有限公司,
类型:发明
国别省市:
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。