【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于图像处理领域,具体涉及一种基于全局和局部特征的红外图像非均匀性校正方法。
技术介绍
1、近年来,随着深度学习的不断发展,基于深度学习的红外图像非均匀性校正方法可有效克服红外探测器响应不一致、温度特性随时间变化等问题,表现出优异的鲁棒性和非均匀性校正能力,已逐渐成为专家学者的重点研究领域。
2、然而,虽然基于深度学习的非均匀性校正方法具有强泛化能力和非均匀性校正性能,但往往存在计算复杂度高的问题。大型模型非均匀性校正后图像质量高,但存在模型规模大、计算复杂的缺点,往往难以实现工程应用,且单帧处理速度无法达到工程化快速处理要求。小模型虽然易部署且可满足工程化要求,但非均匀性校正能力差,易存在图像细节模糊,甚至变形的问题。因此研究如何平衡模型的复杂度与非均匀性校正性能,设计兼具复杂度低、处理速度快且非均匀性校正性能强的深度学习模型是该领域有待解决的重要问题。
3、该方法分别通过由行、列灰度残差以及全局灰度特征提取块构成的特征提取层剥离条纹噪声,实现低成本、高质量的纹理提取,以逐点叠加的线性方式融合多尺度特
...【技术保护点】
1.一种基于全局和局部特征的红外图像非均匀性校正方法,其特征在于,包括以下步骤:
2.根据权利要求1所述的一种基于全局和局部特征的红外图像非均匀性校正方法,其特征在于,所述步骤2、4、6、8、11、14、17中,特征提取层包括行灰度、列灰度、全局灰度残差特征特征提取块构成;特征提取层分为两个支路,一路为全局灰度残差,另一路由行灰度残差特征提取模块、列灰度残差特征提取模块串联构成;特征提取层通过逐点叠加方式融合两支路特征图。
3.根据权利要求2所述的一种基于全局和局部特征的红外图像非均匀性校正方法,其特征在于,所述列灰度残差特征提取模块分为两个支
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【技术特征摘要】
1.一种基于全局和局部特征的红外图像非均匀性校正方法,其特征在于,包括以下步骤:
2.根据权利要求1所述的一种基于全局和局部特征的红外图像非均匀性校正方法,其特征在于,所述步骤2、4、6、8、11、14、17中,特征提取层包括行灰度、列灰度、全局灰度残差特征特征提取块构成;特征提取层分为两个支路,一路为全局灰度残差,另一路由行灰度残差特征提取模块、列灰度残差特征提取模块串联构成;特征提取层通过逐点叠加方式融合两支路特征图。
3.根据权利要求2所述的一种基于全局和局部特征的红外图像非均匀性校正方法,其特征在于,所述列灰度残差特征提取模块分为两个支路;
4.根据权利要求2所述的一种基于全局和局部特征的红外图像非均匀性校正方法,其特征在于,所述行灰度残差特征提取模块分为两个支路;
5.根据权利要求2所述的一种基于全局和局部特征的红外图像非均匀性校正方法,其特征在于,所述全局灰度残...
【专利技术属性】
技术研发人员:胡晓宁,张超,刘锋,韩龙,柏彬,陈卓,侯军燕,赵纪金,
申请(专利权)人:北京市遥感信息研究所,
类型:发明
国别省市:
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