一种CsI(Tl)晶体镀膜处理方法及其在n/γ射线检测中的应用技术

技术编号:43468604 阅读:21 留言:0更新日期:2024-11-27 13:06
本发明专利技术公开了一种CsI(Tl)晶体镀膜处理方法及其在n/γ射线检测中的应用。本发明专利技术使用核素闪烁体对CsI(Tl)进行处理,可以达到很高的探测效率,以此材料作为闪烁体探测器探头,可以显著提高探测器的效率。通过应用实施例我们可以清晰的观察到,进行镀膜处理的材料可以显著的探测到更多的PSD值较高的中子信号。相比于其他工艺而言,制作成本低且工艺成熟。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于n/γ射线探测领域,具体涉及一种csi(tl)晶体镀膜处理方法及其在n/γ射线检测中的应用。


技术介绍

1、中子的发现是物理学发展史上的里程碑事件,它揭示了原子核内部的结构,打开了人类对核能研究的大门。随着核技术的发展,中子的应用领域已经拓展到各行各业,中子被广泛应用于农业、医疗工业等领域,中子探测技术也在航空航天、矿产资源检测以及核反应检测等领域占据重要地位随着科学技术与社会的发展,世界各国不约而同地对能源问题投以极高的重视。能源是现代国家各方面发展的推动力。具备核辐射探测能力的中子探测器研究至关重要。目前市面上的中子探测器可分为三大类:气体探测器、闪烁体探测器、半导体探测器。目前传统的中子探测器主要采用高气压3he探测器。3he中子探测器由于具有探测效率高、抗辐射能力强、性能优异等特点。尽管它存在体积庞大、响应速度慢等缺点,但在市面上使用的最为广泛。随着各国对其投入研究的增多,3he气体资源的日益紧张,其价格暴涨,中子探测器的成本也水涨船高。闪烁体中子探测器由于探测效率高、时间分辨能力强、n/γ甄别能力良好、易于大面积制作且价格便宜等独特本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种CsI(Tl)晶体镀膜处理方法,其特征在于包括如下步骤:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于:

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于:

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于:

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于:

6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于:

7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于:

8.根据权利要求1-7中任一项方法制备得到的CsI(Tl)异质结结晶薄膜在n/γ射线检测中的应用。

9.根据权利要求8所述的应用,其特征在于:

【技术特征摘要】

1.一种csi(tl)晶体镀膜处理方法,其特征在于包括如下步骤:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于:

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于:

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于:

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在...

【专利技术属性】
技术研发人员:陈俊伟王义超徐志恒张彦许俊
申请(专利权)人:合肥工业大学
类型:发明
国别省市:

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