【技术实现步骤摘要】
本公开涉及芯片测试技术、计算机技术，尤其是一种错误地址信息的获取显示方法、测试设备和电子设备。
技术介绍
1、随着电子技术的发展，电子设备更新换代的速度越来越快，对存储芯片的需求也越来越大，对存储芯片存储空间也提出了更高的要求，使得存储芯片的设计复杂度越来越高。由此导致对存储芯片的测试设备的要求也越来越高，对存储芯片的测试不仅需要常规数字芯片的输入输出测试，还要对存储芯片内部空间的存储地址进行测试，来检测存储空间中是否存在损坏的错误地址位，便于后期对损坏的存储地址进行修复以及对存储地址失效原因进行分析。因此，需要一款测试工具获取存储芯片内部空间中的错误地址测试数据并显示。
技术实现思路
1、本申请提供一种错误地址信息的获取显示方法、测试设备和电子设备，以提高错误地址信息的获取显示效率。
2、本申请的一个方面，提供一种错误地址信息的获取显示方法，包括：
3、响应于对错误地址测试数据的数据读取请求，获取所述数据读取请求中包括的指定地址范围，所述数据读取请求用于指示从待测...
【技术保护点】
1.一种错误地址信息的获取显示方法，其特征在于，所述方法用于测试设备的上位机，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述指定地址范围与显示地址范围的关系，确定所述目标测试数据的目标数据类型，包括：
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述指定地址范围与显示地址范围的关系，确定所述目标测试数据的目标数据类型，包括：
4.根据权利要求1至3任一所述的方法，其特征在于，所述用户交互界面包括访问参数配置窗口，所述方法还包括：
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述访问参数配置窗口...
【技术特征摘要】
1.一种错误地址信息的获取显示方法，其特征在于，所述方法用于测试设备的上位机，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述指定地址范围与显示地址范围的关系，确定所述目标测试数据的目标数据类型，包括：
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述指定地址范围与显示地址范围的关系，确定所述目标测试数据的目标数据类型，包括：
4.根据权利要求1至3任一所述的方法，其特征在于，所述用户交互界面包括访问参数配置窗口，所述方法还包括：
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述访问参数配置窗口还用于配置访问规则参数，所述访问规则参数用于指示访问错误地址测试数据的访问规则；
6.根据权利要求1至3任一所述的方法，其特征在于，所述用户交互界面还包括捕获参数配置窗口，所述方法还包括：
7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述获取配置完成的捕获参数之后，所述方法还包括：
8.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述捕获参数配置窗口还用于配置捕获规则参数，所述捕获规则参数用于指示捕获错误地址测试数据的捕获规则；
9.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述向所述测试设备的下位机发送所述捕获参数之前，所述方法还包括：
10.根据权利要求1至3任一所述的方法，其特征在于，所述在所述用户交互界面上显示所述目标数据类型的目标测试数据对应的错误地址信息，包括：
11.根据权利要求10所述的方法，其特征在于，所述第一显示形式包括所述缩略矩阵位图形式，所述在所述用户交互界面上以第一显示形式显示所述目标测试数据对应的错误地址信息之后，所述方法还包括：
12.根据权利要求1至3任一所述的方法，其特征在于，所述从所述测试设备的下位机获取所述目标数据类型的目标测试数据之后，...
【专利技术属性】
技术研发人员：王亮，张涵，王威，李茂源，
申请(专利权)人：长迈半导体成都有限公司，
类型：发明
国别省市：
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