一种轴系等高测量方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种轴系等高测量方法及装置，所述方法包括：调整雷达天线转台的水平度；确定测量基准面；构建俯仰轴的左右轴头的三维轴系模型，并建立俯仰轴虚拟公共轴线，拟合计算并记录俯仰轴系等高差值；计算方位旋转轴与俯仰旋转轴正交偏离度；对雷达天线进行调整。本发明专利技术能动态实时监测天线转台俯仰轴多角度与俯仰公共轴线偏差量并加以综合修正的天线转台轴系等高测量。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于雷达天线转台轴系正交测量领域，尤其涉及一种轴系等高测量方法及装置。

技术介绍

1、雷达的优点是白天黑夜均能探测远距离的目标，且不受雾、云和雨的阻挡，具有全天候、全天时的特点，并有一定的穿透能力。因此，它不仅成为军事上必不可少的电子装备，而且广泛应用于社会经济发展(如气象预报、资源探测、环境监测等)和科学研究(天体研究、大气物理、电离层结构研究等)。

2、叉臂式雷达天线转台轴系正交装配精度要求高，大跨度虚拟俯仰轴无法直接测量，为保证轴系正交的装配精度，以往测量方法通过搭建测量平台，利用平尺、杠杆百分表进行。测量稳定性及效率低、需多次测量校正。在测量过程中俯仰轴存在挠度变形，空间尺寸测量操作困难，测量精度要求高、测量效率低、对人员技能水平要求高。测量过程中叠加轴头圆度、同轴度加工误差后导致轴系等高精度下降。

技术实现思路

1、为了解决上述问题，本专利技术提出了一种轴系等高测量方法，包括以下步骤：

2、调整雷达天线转台的水平度；

3、确定测量基准面；

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【技术保护点】

1.一种轴系等高测量方法，其特征在于，包括以下步骤：

2.根据权利要求1所述的轴系等高测量方法，其特征在于，调整雷达天线转台(6)的水平度在10″以内。

3.根据权利要求1所述的轴系等高测量方法，其特征在于，选取天线转台(6)上的水平面作为测量基准面。

4.根据权利要求1所述的轴系等高测量方法，其特征在于，通过在支臂(8)与轴承座(7)结合部位加塞垫板(9)的方式对雷达天线进行调整。

5.根据权利要求1所述的轴系等高测量方法，其特征在于，方位旋转轴与俯仰旋转轴正交偏离度δ的计算公式具体为：

6.一种轴系等高测量装置，其特征在于，...

【技术特征摘要】

1.一种轴系等高测量方法，其特征在于，包括以下步骤：

2.根据权利要求1所述的轴系等高测量方法，其特征在于，调整雷达天线转台(6)的水平度在10″以内。

3.根据权利要求1所述的轴系等高测量方法，其特征在于，选取天线转台(6)上的水平面作为测量基准面。

4.根据权利要求1所述的轴系等高测量方法，其特征在于，通过在支臂(8)与轴承座(7)结合部位加塞垫板(9)的方式对雷达天线进行调整。

5.根据权利...

【专利技术属性】
技术研发人员：王鹏，糜敏，郝新锋，张其政，刘昂，
申请(专利权)人：中国电子科技集团公司第十四研究所，
类型：发明
国别省市：