一种分光探测器测试设备及实现方法技术

本发明专利技术公开了一种分光探测器测试设备及实现方法，属于通信领域。分光探测器测试设备，包括标定PD输入装置，用于输入标定PD的值；待测TapPD输入装置，用于输入待测TapPD的值，该设备还包括计算装置，计算装置根据输入的标定PD的值，以及待测TapPD的值，计算待测TapPD装置的响应度以及插入损耗。相比于现有技术，本发明专利技术的优点在于：设备结构简单、操作简单、测试时间短、自动化程度高且对操作人员的技术要求低；设备的集成度高且体积重量小、移动方便；对设备的维护简单、维护成本低。实现了分光探测器在不同波长下的插入损耗、PD响应度和暗电流指标的快速自动化测试，并能够和电脑、上位机软件相结合，实现测试数据自动存储和数据统计分析的功能。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及通信，更具体地说，涉及一种分光探测器测试设备及实现方法。

技术介绍

1、分光探测器(tappd)采用双芯尾纤式结构，通过分光片进行分光，将一定比例的光耦合到光探测器，将其余的光反射到另一根光纤。分光探测器广泛应用于光纤通信系统中，对光信号的功率进行在线监测，从而实现对光信号的功率监控和管理。分光探测器的关键性能指标为不同波长下的插入损耗(il)和pd响应度等。因此，快速并准确地检测关键性能指标，在分光探测器的生产和使用过程中起到至关重要的作用。

2、现有技术中，测试设备通常采用由电脑、上位机软件、控制器、可调光源、多通道光开关、多通道光功率计、皮安表和电压源等设备组成的复杂系统构成，虽然可以实现自动测试、测试结果显示和测试数据自动存储等功能，但是存在诸多缺陷，如系统复杂，成本高；操作繁琐、对操作人员的技术要求高；系统复杂，可调光源、多通道光开关、多通道光功率计、皮安表、电压源等设备都需要定期维护和校准，维护工作量大；故障排查困难，且需要高水平的专业工程师或设备原厂工程师才能完成；系统庞大、设备多，难以搬动以及生产效率低。如中国专利本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种分光探测器测试设备，包括标定PD输入装置，用于输入标定PD的值；待测TapPD输入装置，用于输入待测TapPD的值，其特征在于，还包括计算装置，计算装置根据输入的标定PD的值，以及待测TapPD的值，计算待测TapPD装置的响应度以及插入损耗。

2.根据权利要求1所述的分光探测器测试设备，其特征在于，

3.根据权利要求2所述的分光探测器测试设备，其特征在于，

4.根据权利要求3所述的分光探测器测试设备，其特征在于，

5.根据权利要求1所述的分光探测器测试设备，其特征在于，

6.根据权利要求5所述的分光探测器测试设备，其特...

【技术特征摘要】

1.一种分光探测器测试设备，包括标定pd输入装置，用于输入标定pd的值；待测tappd输入装置，用于输入待测tappd的值，其特征在于，还包括计算装置，计算装置根据输入的标定pd的值，以及待测tappd的值，计算待测tappd装置的响应度以及插入损耗。

2.根据权利要求1所述的分光探测器测试设备，其特征在于，

3.根据权利要求2所述的分光探测器测试设备，其特征在于，

4.根据权利要求3所述的分光探测器测试设备，其特征在于，

5.根据权利要求1所述的分光探测器...

【专利技术属性】
技术研发人员：许明，穆安容，张宇航，王保东，李怀胜，
申请(专利权)人：安徽共芯光子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：