一种具有高度调节结构的数显测高仪制造技术

技术编号:43422455 阅读:14 留言:0更新日期:2024-11-22 17:55
本技术涉及测高仪技术领域,公开了一种具有高度调节结构的数显测高仪,包括壳体一,所述壳体一的顶部固定连接有壳体二,所述壳体二的外部右侧开设有凹槽一,所述凹槽一的内部滑动连接有滑杆,所述滑杆的外部滑动连接有套筒,所述壳体一的顶部开设有多个凹槽二,所述壳体一的底部设置有驱动组件,所述壳体一的内部固定连接有基座,所述基座的顶部开设有多个滑槽,所述滑槽的内部滑动连接有滑板,所述滑板的顶部固定连接有连接块,所述连接块的顶部固定连接有夹块。本技术中,能够使得装置在使用过程中,通过电机控制多个夹块运动使得物件在测高时更加稳定,通过把手控制螺纹杆旋转并将螺纹套上下移动。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及测高仪,尤其涉及一种具有高度调节结构的数显测高仪


技术介绍

1、数显测高仪是一种用于精确测量工件高度或者确定平面上特定点的仪器。它通常由一个垂直支架和一个移动的测量头组成,测量头上安装有传感器和数字显示屏,用于显示测量结果,数显测高仪与传统的测高仪相比,其最大的特点是具备数字显示屏,可以直接显示测量的数值,提供更方便和精确的读数。这些仪器通常具有高度测量范围广、测量精度高、易于操作等优点,因此在精密加工、质量控制、工程测量等领域得到广泛应用。

2、现有技术中,部分装置在使用过程中,基于传感器测量工件顶部或特定点到基准面的距离。测量头移动到目标位置后,传感器测量距离并将数据传输到数字显示屏,显示出相应的高度值,但是在此过程中装置底部无法很好地将物件夹持住保持稳定,容易导致测量数据不够稳定。


技术实现思路

1、本技术的目的是解决现有技术中存在的缺点,而提出的一种具有高度调节结构的数显测高仪,旨在改善现有技术在使用过程中物件不够稳定从而导致测量数据不够精确的问题。

2、为实现上述本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种具有高度调节结构的数显测高仪,包括壳体一(1),其特征在于:所述壳体一(1)的顶部固定连接有壳体二(2),所述壳体二(2)的外部右侧开设有凹槽一(3),所述凹槽一(3)的内部滑动连接有滑杆(4),所述滑杆(4)的外部滑动连接有套筒(5),所述壳体一(1)的顶部开设有多个凹槽二(6),所述壳体一(1)的底部设置有驱动组件,所述壳体一(1)的内部固定连接有基座(9),所述基座(9)的顶部开设有多个滑槽(10),所述滑槽(10)的内部滑动连接有滑板(11),所述滑板(11)的顶部固定连接有连接块(12),所述连接块(12)的顶部固定连接有夹块(13),所述驱动组件的外部固定连接有旋转板...

【技术特征摘要】

1.一种具有高度调节结构的数显测高仪,包括壳体一(1),其特征在于:所述壳体一(1)的顶部固定连接有壳体二(2),所述壳体二(2)的外部右侧开设有凹槽一(3),所述凹槽一(3)的内部滑动连接有滑杆(4),所述滑杆(4)的外部滑动连接有套筒(5),所述壳体一(1)的顶部开设有多个凹槽二(6),所述壳体一(1)的底部设置有驱动组件,所述壳体一(1)的内部固定连接有基座(9),所述基座(9)的顶部开设有多个滑槽(10),所述滑槽(10)的内部滑动连接有滑板(11),所述滑板(11)的顶部固定连接有连接块(12),所述连接块(12)的顶部固定连接有夹块(13),所述驱动组件的外部固定连接有旋转板(14),所述滑板(11)的底部固定连接有限位组件。

2.根据权利要求1所述的一种具有高度调节结构的数显测高仪,其特征在于:所述驱动组件包括电机(7)、中心轴(8),所述中心轴(8)的外部固定连接在所述旋转板(14)的内部,所述中心轴(8)的底部固定连接在所述电机(7)的驱动端,所述中心轴(8)的外部转动连接在所述基座(9)的内部。

3.根据权利要求1所述的一种具有高度调节结构的数显测高仪,其特征在于:所述限位组件包括动杆(15)、限位板(16),所述动杆(15)的顶部固定连接在所述滑板(11)的底部,所述限位板(16)的顶部固定连接在所述动杆(15)的底部。

【专利技术属性】
技术研发人员:王远航
申请(专利权)人:苏州途克精密科技有限公司
类型:新型
国别省市:

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