电弧直读发射光谱法测定铑粉中杂质元素的方法技术

本发明专利技术提供了一种电弧直读发射光谱法测定铑粉中杂质元素的方法，步骤如下：S1、采用碳粉、碳酸锂、氟化钠混合配置成缓冲剂；S2、将缓冲剂加入铑粉样品中，研磨均匀，按目标浓度配制成各杂质元素单质或氧化物的混合试样；S3、并用S2所得混合样按照逐级稀释的办法稀释为母样，得系列标准样品；S4、分别将制备好的标准样品填入石墨电极杯内，压实，滴加2％的蔗糖的酒精水溶液，烘干备用；S5、采用电弧发射光谱仪直接激发系列标准样品，即可获得工作曲线用于日常分析。本发明专利技术采用固体直接进样方式，将铑粉样品与缓冲剂混合研磨制样，制样方法快速，采用电弧发射光谱仪直接激发试样，单次激发时间1min以内，即可获得分析结果，显著降低样品分析测试成本。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及检测，具体涉及一种电弧直读发射光谱法测定铑粉中杂质元素的方法。

技术介绍

1、铂铑合金具有良好的导电、导热性，能稳定地抗蠕变和延展，是玻璃纤维行业漏板普遍使用的贵金属材料。铂铑合金纯度的差异对价格及性能影响较大，因此必须对纯铂和铑粉的来料进行杂质元素含量的检测。

2、铑粉检测时需微量样品在复杂酸溶体下，通过微波消解、转移、洗罐、浓缩、定容后使用icp-aes检测，检测周期较长，操作过程繁琐，影响相关部门加工生产进度，不利于企业生产效率的提高。因此，对铑粉中杂质含量的检测需要一种快速的分析手段。

技术实现思路

1、针对现有技术中存在的问题，本专利技术提供了一种电弧直读发射光谱法测定铑粉中杂质元素的方法，直流电弧由于电流密度大具有更高的蒸发温度，分析灵敏度会更好，适合低含量样品检测，实现快速对铑粉中杂质含量进行分析检测。

2、为实现以上目的，本专利技术通过以下技术方案予以实现：

3、一种电弧直读发射光谱法测定铑粉中杂质元素的方法，包括如下步骤：

4、s本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种电弧直读发射光谱法测定铑粉中杂质元素的方法，其特征在于，包括如下步骤：

2.根据权利要求1所述的电弧直读发射光谱法测定铑粉中杂质元素的方法，其特征在于，步骤S1中，碳粉、碳酸锂、氟化钠的混合粉质量比为7:1:2。

3.根据权利要求2所述的电弧直读发射光谱法测定铑粉中杂质元素的方法，其特征在于，步骤S2中，铑粉与缓冲剂的混合质量比为1:1，即铑粉、碳粉、碳酸锂、氟化钠的混合粉质量比为10:7:1:2。

4.根据权利要求3所述的电弧直读发射光谱法测定铑粉中杂质元素的方法，其特征在于，步骤S4中，烘干温度为120℃。

5.根据权利要求3所...

【技术特征摘要】

1.一种电弧直读发射光谱法测定铑粉中杂质元素的方法，其特征在于，包括如下步骤：

2.根据权利要求1所述的电弧直读发射光谱法测定铑粉中杂质元素的方法，其特征在于，步骤s1中，碳粉、碳酸锂、氟化钠的混合粉质量比为7:1:2。

3.根据权利要求2所述的电弧直读发射光谱法测定铑粉中杂质元素的方法，其特征在于，步骤s2中，铑粉与缓冲剂的混合质量比为1:1，即铑粉、碳粉、碳酸锂、氟化钠的混合粉质量比为10:7:1:2。

4.根据权利要求3所述的电弧直读发射光谱法测定铑粉中杂质元素的方法，其特征在于，步骤s4中，烘干温度为120℃。

5.根据权利要求3所述的电弧直读发射光谱法测定铑粉中杂质元素的方法，其特征在于，步骤s5中，电弧发射光谱仪的直接激发时间为3...

【专利技术属性】
技术研发人员：张健，马晓蕾，孙芳，黄冬，罗函丹，孙兆毅，
申请(专利权)人：泰山玻璃纤维有限公司，
类型：发明
国别省市：