显示面板、显示面板的检测方法及显示装置制造方法及图纸

本公开提供一种显示面板、显示面板的检测方法及显示装置，该显示面板，包括：阵列基板；所述阵列基板包括显示区域和非显示区域；所述非显示区域设置有覆晶薄膜、电气检测移位寄存器电极、电气检测源极电极和阵列检测走线；所述覆晶薄膜通过覆晶薄膜引脚与所述电气检测移位寄存器电极和所述电气检测源极电极连接；所述电气检测移位寄存器电极和所述电气检测源极电极与所述阵列检测走线连接；所述显示区域和所述非显示区域覆盖有彩膜基板。本公开通过设置用于进行电气检测的专用结构即电气检测移位寄存器电极和电气检测源极电极，避免了进行电气检测时与阵列检测共用阵列检测的专用结构而导致的漏检问题。

【技术实现步骤摘要】

本公开涉及显示面板及显示装置，尤其涉及一种显示面板、显示面板的检测方法及显示装置。

技术介绍

1、本部分旨在为权利要求书中陈述的本公开的实施方式提供背景或上下文。此处的描述不因为包括在本部分中就承认是现有技术。

2、在显示面板的制造过程中，需要对显示面板进行检测。针对显示面板的检测通常包括电气检测(et检测，electrical test)和阵列检测(at检测，array test)。

3、在大尺寸显示面板中，通常仅设置有阵列检测的专用结构，而未设置有电气检测的专用结构，在进行电气检测时，只能与阵列检测共同阵列检测的专用结构。

4、然而，电气检测和阵列检测共同阵列检测的专用结构进行检测时，存在漏检的问题。

技术实现思路

1、有鉴于此，本公开的目的在于提出一种显示面板、显示面板的检测方法及显示装置，至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。

2、基于上述目的，本公开示例性实施例第一方面提供了一种显示面板，包括：阵列基板；

3、所述阵列基板包括显示区本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种显示面板，其特征在于，包括：阵列基板；

2.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述覆晶薄膜引脚包括第一覆晶薄膜引脚和第二覆晶薄膜引脚；

3.根据权利要求2所述的显示面板，其特征在于，包括多个所述电气检测源极电极；

4.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述非显示区域包括第一非显示区域和第二非显示区域；

5.根据权利要求4所述的显示面板，其特征在于，所述电气检测移位寄存器电极包括第一电气检测移位寄存器电极和第二电气检测移位寄存器电极，所述第一电气检测移位寄存器电极和所述第二电气检测移位寄存器电极沿第一方向依次排列成一排...

【技术特征摘要】

1.一种显示面板，其特征在于，包括：阵列基板；

2.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述覆晶薄膜引脚包括第一覆晶薄膜引脚和第二覆晶薄膜引脚；

3.根据权利要求2所述的显示面板，其特征在于，包括多个所述电气检测源极电极；

4.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述非显示区域包括第一非显示区域和第二非显示区域；

5.根据权利要求4所述的显示面板，其特征在于，所述电气检测移位寄存器电极包括第一电气检测移位寄存器电极和第二电气检测移位寄存器电极，所述第一电气检测移位寄存器电极和所述第二电气检测移位寄存器电极沿第一方向依次排列成一排，且所述第一电气检测移位寄存器电极和所述第二电气检测移位寄存器电极分别设置在所述第二非显示区域与所述覆晶薄膜沿所述第一方向的两侧对应的位置；

6.根据权利要求4所述的显示面板，其特征在于，所述覆晶薄膜包括第一覆晶薄膜和第二覆晶薄膜，所述第一覆晶薄膜和所述第二覆晶薄膜沿第一方向依次排列成一排；

7.根据权利要求4所述的显示面板，其特征在于，所述覆晶薄膜包括第一覆晶薄膜、第二覆晶薄膜、第三覆晶薄膜和第四覆晶薄膜，所述第一覆晶薄膜、所述第二覆晶薄膜、所述第三覆晶薄膜和所述第四覆晶薄膜...

【专利技术属性】
技术研发人员：乜玲芳，张勇，安亚帅，杨智超，边若梅，邓祁，王德生，郭赞武，王佩佩，刘洋，
申请(专利权)人：北京京东方光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：