【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及光电器件耦合，更具体地讲，涉及一种用于深腔壳体结构的光学耦合系统及方法。
技术介绍
1、光电通讯技术以其高速度、大容量、抗干扰、能耗低和保密性强等优点，已被广泛应用于传感探测、通信传输、数据存储、生物医疗以及航空航天等领域，是国家信息化建设和国防工业建设的重要支撑技术。
2、为了保证光电器件的长期可靠性，一般需要将光电器件封装在金属壳体内并进行壳体封焊，以增加其机械强度和环境适应性，同时随着光电器件高密度集成和小型化的发展需求，在相同尺寸的壳体内需要集成更多的光电器件及元件，尤其涉及光电芯片与元器件在金属壳体内进行光学耦合集成。
3、现有技术中在金属壳体内进行元件贴装时，由于元件集成密度高，金属腔体侧壁很容易干扰贴装过程，形成遮挡，同时外部的视觉观测系统通常只能通过操作前的图像拍照和完成集成后的外观检查进行产品质量管控，无法直接、实时观察到耦合集成过程的实际情况，从而大幅降低耦合集成的成品率，且存在一定的不良隐患，无法及时发现器件耦合贴装的问题；金属壳体的内腔深度越深，此问题越明显。
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【技术保护点】
1.一种用于深腔壳体结构的光学耦合系统，用于元器件的耦合其特征在于，包括位于深腔壳体结构外侧的视觉观测系统、设置在深腔壳体结构内的反射棱镜；所述反射棱镜反射面的中心与相邻两组元器件的结合面在同一水平面上；所述视觉观测系统位于反射棱镜的正上方；在所述反射面设置有反射膜。
2.根据权利要求1所述的一种用于深腔壳体结构的光学耦合系统，其特征在于，所述反射棱镜的反射面与水平面所形成的夹角为45°。
3.根据权利要求1所述的一种用于深腔壳体结构的光学耦合系统，其特征在于，所述反射膜为400nm-780nm的可见光波长反射膜。
4.根据权利要求...
【技术特征摘要】
1.一种用于深腔壳体结构的光学耦合系统，用于元器件的耦合其特征在于，包括位于深腔壳体结构外侧的视觉观测系统、设置在深腔壳体结构内的反射棱镜；所述反射棱镜反射面的中心与相邻两组元器件的结合面在同一水平面上；所述视觉观测系统位于反射棱镜的正上方；在所述反射面设置有反射膜。
2.根据权利要求1所述的一种用于深腔壳体结构的光学耦合系统，其特征在于，所述反射棱镜的反射面与水平面所形成的夹角为45°。
3.根据权利要求1所述的一种用于深腔壳体结构的光学耦合系统，其特征在于，所述反射膜为400nm-780nm的可见光波长反射膜。
4.根据权利要求3所述的一种用于深腔壳体结构的光学耦合系统，其特征在于，所述反射膜为1310nm-1550nm的全反射膜。
5.根据权利要求3所述的一种用于深腔壳体结构的光学耦合系统，其特征在于，所述视觉观测系统为体视显微镜或视频显微镜。
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【专利技术属性】
技术研发人员：蔚增禧，吕晓萌，许玮华，王海龙，张童童，陈少勇，李希斌，
申请(专利权)人：中国电子科技集团公司第二十九研究所，
类型：发明
国别省市：
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