【技术实现步骤摘要】
本申请涉及电量计，特别涉及一种电量计芯片的烧录、校准和性能测试方法、系统及介质。
技术介绍
1、半导体产品的应用和功能检测逐渐渗透到相关制造环节中；其中，针对电量计芯片，其测试需求主要包括烧录、芯片参数校准和性能测试。
2、当前业界的半导体厂商只是提供单个通讯单元和相关通讯软件应用，在其基础上搭架组合测试应用。流程较为繁琐，缺乏通用性和灵活性，并且难以满足特定产品需求。
技术实现思路
1、本申请为解决上述技术问题，提供一种电量计芯片的烧录、校准和性能测试方法、系统及介质。
2、具体的，本申请提供一种电量计芯片的烧录、校准和性能测试方法，用于小米定制南芯方案sc58561电量计，包括以下步骤：
3、s100：获取当前电量计芯片的第一烧录文件和第二烧录文件对应的文件格式和烧录模块，基于所述文件格式的优先级对各烧录模块进行烧录。
4、s200：进入校准模式，当字节状态位递增至预设值时，根据所述字节状态位的递增状态，对当前电量计芯片的初始芯片参数进行...
【技术保护点】
1.一种电量计芯片的烧录、校准和性能测试方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的电量计芯片的烧录、校准和性能测试方法，其特征在于，设定文件格式的优先级高的烧录模块为第一烧录模块，优先级低的烧录模块为第二烧录模块；
3.根据权利要求2所述的电量计芯片的烧录、校准和性能测试方法，其特征在于，对所述第一烧录模块进行烧录，包括：
4.根据权利要求2所述的电量计芯片的烧录、校准和性能测试方法，其特征在于，对所述第二烧录模块进行烧录，包括：
5.根据权利要求3或4所述的电量计芯片的烧录、校准和性能测试方法，其特征在...
【技术特征摘要】
1.一种电量计芯片的烧录、校准和性能测试方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的电量计芯片的烧录、校准和性能测试方法，其特征在于，设定文件格式的优先级高的烧录模块为第一烧录模块，优先级低的烧录模块为第二烧录模块；
3.根据权利要求2所述的电量计芯片的烧录、校准和性能测试方法，其特征在于，对所述第一烧录模块进行烧录，包括：
4.根据权利要求2所述的电量计芯片的烧录、校准和性能测试方法，其特征在于，对所述第二烧录模块进行烧录，包括：
5.根据权利要求3或4所述的电量计芯片的烧录、校准和性能测试方法，其特征在于，在对所述字节单元或烧录单元进行烧录的过程中，还包括：
6.根...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈思波，
申请(专利权)人：广东德赛矽镨技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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