一种LED芯片外观智能快速检测系统及方法技术方案

本发明专利技术公开了一种LED芯片外观智能快速检测系统及方法，涉及芯片检测技术领域，该系统通过光源控制模块通过构建光源组合矩阵L，精确设定光源状态、俯仰角和方位角，实现对LED芯片的多角度照射。图像采集模块利用带有偏振滤镜的工业相机，同步捕捉不同角度的图像，并通过透视校正、畸变校正等预处理，获取高质量的标准图像。在特征提取与融合模块中，系统提取多角度反射指数R(A，B)、局部表面纹理参数T(x，y）和光源偏振角P(A，B）等关键特征，通过综合计算生成融合图像Ifused。这种检测系统能够更加准确地识别芯片表面的细微缺陷，显著提高检测精度和一致性，同时减少人工检测的时间和误差。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及芯片检测，具体为一种led芯片外观智能快速检测系统及方法。

技术介绍

1、led芯片外观智能快速检测系统属于工业自动化检测领域，尤其是智能化视觉检测技术的应用范畴。在现代制造业中，led芯片的外观质量直接影响其性能和市场竞争力，因此，高效、精确的外观检测成为led芯片生产过程中至关重要的一环。该检测系统利用多角度光源分析、图像处理和智能算法，针对led芯片表面的细微缺陷进行检测，确保产品的高质量输出。

2、在申请公布号为cn112964635b的中国专利技术申请中，公开了一种芯片检测方法以及系统，芯片检测方法包括：控制光源发出的目标光线经过检测基板照射至设置在承载基板一侧的待检测芯片，使检测基板靠近待检测芯片的一侧形成与各个待检测芯片对应的劈尖干涉条纹；通过图像采集装置采集各个待检测芯片对应的劈尖干涉条纹以形成与各个待检测芯片对应的干涉条纹图像；对干涉条纹图像与预设图像进行匹配，以获得检测结果。本专利技术的芯片检测方法不仅能够检测芯片的摆放是否摆正，也能够检测包括芯片在垂直方向上是否存在高低不平在内的多个方面，且检测准确精度高。<本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种LED芯片外观智能快速检测系统，其特征在于：包括光源控制模块、图像采集模块、特征提取与融合模块、缺陷识别模块和综合检测分析模块；

2.根据权利要求1所述的一种LED芯片外观智能快速检测系统，其特征在于：所述光源控制模块通过构建光源组合矩阵L与光源控制设备，在计算机控制平台上进行集成，设定拍摄光源的光源状态l、俯仰角A和方位角B进行控制，所述光源控制设备包括数字信号处理DSP、脉宽调制设备、自动化控制电动机和自动化旋转支架；

3.根据权利要求2所述的一种LED芯片外观智能快速检测系统，其特征在于：所述图像采集模块包括图像采集单元和图像预处理单元；

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【技术特征摘要】

1.一种led芯片外观智能快速检测系统，其特征在于：包括光源控制模块、图像采集模块、特征提取与融合模块、缺陷识别模块和综合检测分析模块；

2.根据权利要求1所述的一种led芯片外观智能快速检测系统，其特征在于：所述光源控制模块通过构建光源组合矩阵l与光源控制设备，在计算机控制平台上进行集成，设定拍摄光源的光源状态l、俯仰角a和方位角b进行控制，所述光源控制设备包括数字信号处理dsp、脉宽调制设备、自动化控制电动机和自动化旋转支架；

3.根据权利要求2所述的一种led芯片外观智能快速检测系统，其特征在于：所述图像采集模块包括图像采集单元和图像预处理单元；

4.根据权利要求3所述的一种led芯片外观智能快速检测系统，其特征在于：所述特征提取与融合模块包括特征提取单元、特征计算单元和特征融合单元；

5.根据权利要求4所述的一种led芯片外观智能快速检测系统，其特征在于：所述局部表面纹理分析单元通过使用图像二阶微分的方差构建局部纹理计算公式，进行计算输出标准图像集的局部表面纹理参数t（x，y）...

【专利技术属性】
技术研发人员：李琴，崔鹏，郝鹏，
申请(专利权)人：深圳市领耀东方科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：

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