一种可实现实时监控的VCSEL COC老化和寿命测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种可实现实时监控的VCSEL COC老化和寿命测试装置,所述装置包括探针、电路板、电路板接头、定位板及基座，所述电路板为陶瓷薄膜电路板，陶瓷薄膜电路板的表面及侧面镀有金属层，陶瓷薄膜电路板的表面设置安装COC芯片，所述陶瓷薄膜电路板的上部安装PD电板，探针与陶瓷薄膜电路板的侧面镀金层连接，所述电路板接头安装在电路板的一端。本发明专利技术解决了VCSEL的COC老化和寿命测试的技术问题及在COC老化和寿命测试中如何实现出光功率的实时监控问题。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及半导体激光器封装，尤其是一种可实现实时监控的vcselcoc老化和寿命测试装置。

技术介绍

1、在过去的几十年，半导体激光制造技术取得了长足的进步，其应用涉及到多个邻域。与电子器件类似，光子器件的小型化和集成化有广阔的应用前景。

2、半导体激光器的老化和寿命测试是半导体激光器制造过程和性能评估中很关键的一步。为了使激光器工作性能处于一个稳定的状态，需要激光器预先进行高温、大电流工作促使其老化至性能曲线中较平稳的区域。而半导体激光器的老化效率是生产个过程中提高生产效率的重要一个环节。

3、现今vcsel芯片的老化大多采用封装成to管或cob的形式后进行老化，通过老化前后的测试结果的对比筛选出合格品，不合格的则连同封装一起扔了。如果芯片的良率不高这种老化测试方法是及其浪费和不合理的。尤其是现在气体传感邻域也广泛应用vcsel芯片，这些vcsel芯片的封装虽然也采用to管的封装形式但为了调波长封装中大多还用到半导体制冷器(tec)。由于半导体制冷十分昂贵，所以现在业界采用的封装成to管来老化测试vcsel芯片的办法也是业界十本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种可实现实时监控的VCSEL COC老化和寿命测试装置,其特征在于：所述装置包括探针(102)、电路板(110)、电路板接头(112)、定位板(108)及基座(109)，所述电路板(110)为陶瓷薄膜电路板(101)，所述陶瓷薄膜电路板(101)的表面及侧面镀有金属层(103)，所述陶瓷薄膜电路板(101)的表面设置安装COC芯片(104)，所述陶瓷薄膜电路板(101)的上部安装PD电板(106)，探针(102)与陶瓷薄膜电路板(101)的侧面镀金层连接，所述电路板接头(112)安装在电路板(110)的一端。

2.根据权利要求1所述可实现实时监控的VCSEL COC老化...

【技术特征摘要】

1.一种可实现实时监控的vcsel coc老化和寿命测试装置,其特征在于：所述装置包括探针(102)、电路板(110)、电路板接头(112)、定位板(108)及基座(109)，所述电路板(110)为陶瓷薄膜电路板(101)，所述陶瓷薄膜电路板(101)的表面及侧面镀有金属层(103)，所述陶瓷薄膜电路板(101)的表面设置安装coc芯片(104)，所述陶瓷薄膜电路板(101)的上部安装pd电板(106)，探针(102)与陶瓷薄膜电路板(101)的侧面镀金层连接，所述电路板接头(112)安装在电路板(110)的一端。

2.根据权利要求1所述可实现实时监控的vcsel coc老化和寿命测试装置，其特征在于：所述探针(102)设置为一对，分别与侧面镀金层的正负极连接。

3.根据权利要求1所述可实现实时监控的vcsel coc老化和寿命测试装置，其特征在于：所述陶瓷薄膜电路板(101)的上表面被分为正负极两个部分。

4.根据权利要求1所述可实现实时监控的vcsel coc老化和寿命测试装置，其特征在于：所述coc芯片(104)安装在所述陶瓷薄膜电路板(101)上表面负极，键合金线(105)与正极连接。

5.根据权利要求1所述可实现实时监控的vcsel coc老化和寿命测试装置，其特征在于：所述pd电板(106)下表面的pd光敏面(107)与所述陶瓷薄膜电路板(101)上表面贴合。

【专利技术属性】
技术研发人员：张耐，
申请(专利权)人：南京光通光电技术有限公司，
类型：发明
国别省市：