【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及计算机应用，尤其涉及一种产品数据分析方法、装置、设备及存储介质。
技术介绍
1、目前在产品的加工过程中，为了方便提高产品的加工精度，提高产品的加工良率，通常需要获取产品的加工过程数据进行分析，特别是需要分析加工过程中产生的缺陷，从而可以方便降低出现缺陷的概率。
2、但是目前只能通过人工进行数据分析，效率较低。
技术实现思路
1、本专利技术提供一种产品数据分析方法、装置、设备及存储介质，以解决相关技术中的不足。
2、根据本专利技术实施例的第一方面，提供一种产品数据分析方法，在产品加工过程中包括至少一个前置加工步骤以及当前加工步骤；所述当前加工步骤是在所述至少一个前置加工步骤的加工结果基础上执行的；
3、所述方法包括：
4、针对所述至少一个前置加工步骤中的任一前置加工步骤，确定所针对前置加工步骤的加工结果中的前置缺陷位置；
5、根据所述前置缺陷位置的分布情况，确定所针对前置加工步骤对应的前置缺陷高发区域；
6...
【技术保护点】
1.一种产品数据分析方法，其特征在于，在产品加工过程中包括至少一个前置加工步骤以及当前加工步骤；所述当前加工步骤是在所述至少一个前置加工步骤的加工结果基础上执行的；
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述前置缺陷位置的分布情况，确定所针对前置加工步骤对应的前置缺陷高发区域，包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，还包括以下任一项：
4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于所述前置缺陷位置，根据预设异常检测算法，确定前置缺陷位置聚集的区域，包括以下至少一项：
5.根据权利要求1所述的方法...
【技术特征摘要】
1.一种产品数据分析方法，其特征在于，在产品加工过程中包括至少一个前置加工步骤以及当前加工步骤；所述当前加工步骤是在所述至少一个前置加工步骤的加工结果基础上执行的；
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述前置缺陷位置的分布情况，确定所针对前置加工步骤对应的前置缺陷高发区域，包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，还包括以下任一项：
4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于所述前置缺陷位置，根据预设异常检测算法，确定前置缺陷位置聚集的区域，包括以下至少一项：
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述针对所述至少一个前置加工步骤中的任一前置加工步骤，确定所针对前置加工步骤的加工结果中的前置缺陷位置，根据所述前置缺陷位置的分布情况，确定所针对前置加工步骤对应的前置缺陷高发区域，包括：
6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述基于所述不同前置加工步骤分别对应的前置缺陷高发区域，预测所述当前加工步骤对应的预测缺陷高发区域，包括以下任一项：
7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：
8.根据权利要求1所述的方法，其特征在...
【专利技术属性】
技术研发人员：程子健，周希波，文晋晓，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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