反射型点状参考目标阵列装置的控制方法、装置、控制器和反射型点状参考目标阵列装置制造方法及图纸

技术编号:43394254 阅读:28 留言:0更新日期:2024-11-19 18:09
本申请涉及一种反射型点状参考目标阵列装置的控制方法、装置、控制器和反射型点状参考目标阵列装置。该方法包括获取目标角度参数和反射型点状参考目标阵列装置的当前角度参数;确定目标角度参数和当前角度参数的角度差值;若角度差值大于预设角度差值阈值,则根据角度差值和预设分段规则,确定对应的分段转动轨迹,并控制反射型点状参考目标阵列装置的反射镜组件沿分段转动轨迹进行转动,以使当前角度参数对应的角度差值小于等于预设角度差值阈值;其中,不同分段转动轨迹对应的转动速度时间曲线不同。采用本方法,能够提高跟踪精度。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及点光源靶标,特别是涉及一种反射型点状参考目标阵列装置的控制方法、装置、控制器和反射型点状参考目标阵列装置


技术介绍

1、在航天航空遥感
中,反射型点状参考目标阵列装置通常应用于光学遥感卫星相机在轨运行期间的定标与质评,为了保证定标和质评的准确性,需要对太阳等天体的运动轨迹进行高精度的跟踪控制。

2、传统的反射型点状参考目标阵列装置往往难以直接处理太阳运行轨迹这种复杂的非线性变化,导致跟踪精度受限。

3、因此,亟需提供一种新的反射型点状参考目标阵列装置的控制方法,以提高跟踪精度。


技术实现思路

1、基于此,有必要针对上述技术问题,提供一种能够提高跟踪精度的反射型点状参考目标阵列装置的控制方法、装置、控制器和反射型点状参考目标阵列装置。

2、第一方面,本申请提供了一种反射型点状参考目标阵列装置的控制方法,该方法包括:

3、获取目标角度参数和反射型点状参考目标阵列装置的当前角度参数;

4、确定目标角度参数和当前角度参数的角度差值;

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【技术保护点】

1.一种反射型点状参考目标阵列装置的控制方法,其特征在于,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的反射型点状参考目标阵列装置的控制方法,其特征在于,所述角度差值的大小与所述分段转动轨迹的数量呈正相关关系。

3.根据权利要求2所述的反射型点状参考目标阵列装置的控制方法,其特征在于,每段所述转动轨迹均依次包括匀加速阶段、匀速阶段和匀减速阶段,所述匀加速阶段和所述匀减速阶段所对应的加速度大小和时间均相同。

4.根据权利要求3所述的反射型点状参考目标阵列装置的控制方法,其特征在于,当存在多个所述分段转动轨迹的情况下,不同所述分段转动轨迹对应的匀速阶段的转动速度...

【技术特征摘要】

1.一种反射型点状参考目标阵列装置的控制方法,其特征在于,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的反射型点状参考目标阵列装置的控制方法,其特征在于,所述角度差值的大小与所述分段转动轨迹的数量呈正相关关系。

3.根据权利要求2所述的反射型点状参考目标阵列装置的控制方法,其特征在于,每段所述转动轨迹均依次包括匀加速阶段、匀速阶段和匀减速阶段,所述匀加速阶段和所述匀减速阶段所对应的加速度大小和时间均相同。

4.根据权利要求3所述的反射型点状参考目标阵列装置的控制方法,其特征在于,当存在多个所述分段转动轨迹的情况下,不同所述分段转动轨迹对应的匀速阶段的转动速度与所述当前角度差值呈正相关关系。

5.根据权利要求3所述的反射型点状参考目标阵列装置的控制方法,其特征在于,所述控制反射型点状参考目标阵列装置的反射镜组件沿所述分段转动轨迹进行转动,包括:

6.根据权...

【专利技术属性】
技术研发人员:徐伟伟司孝龙杨宝云李鑫李佳伟
申请(专利权)人:中国科学院合肥物质科学研究院
类型:发明
国别省市:

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