一种基于射线衰减规律的低能γ射线能谱测量方法技术

技术编号:43394007 阅读:28 留言:0更新日期:2024-11-19 18:09
本发明专利技术涉及一种γ射线测量方法,为解决现有γ能谱法测量低能特征峰存在的效率低或需求设备复杂或时效性和安全性较差的问题,而提供一种基于射线衰减规律的低能γ射线能谱测量方法。本发明专利技术包括以下步骤:1)使用三维位置灵敏碲锌镉探测器对放射性样品进行γ射线探测;2)根据三维位置灵敏碲锌镉探测器中阳极信号强度和电子载流子的漂移时间,得到γ射线与三维位置灵敏碲锌镉探测器发生相互作用所在位置的三维坐标(x,y,z);3)计算得到γ射线在三维位置灵敏碲锌镉探测器不同深度的衰减量ΔR曲线;4)对衰减量ΔR小于设定阈值所对应的所有深度沉积的γ射线进行能量统计,获得低能γ射线能谱。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种γ射线能谱测量方法,具体涉及一种基于射线衰减规律的低能γ射线能谱测量方法


技术介绍

1、γ能谱法是放射性样品分析的常用方法,常用于禁核试核查、核环境监测、乏燃料放射性废物处理与处置等相关场景中。放射性样品组成复杂,其通常含有多种放射性核素,在进行γ能谱无损测量分析时,这些放射性核素发出的特征γ射线会相互干扰,尤其是低能γ射线,其特征峰叠加在高能γ射线产生的康普顿平台上,当对应的核素相对含量较少或测量统计性不足时,低能γ射线能峰极易被“淹没”在康普顿平台上,影响样品中核素的准确识别和定量分析。因此,减少高能γ射线对低能区的干扰是低能γ射线能谱测量分析的关键。

2、目前,使用γ能谱法测量低能特征峰的放射性核素的方法主要有:

3、方法1)增加测量时间来提高特征峰的计数,或采用多次测量的方法降低测量的统计误差;

4、方法2)使用反康普顿谱仪对样品进行测量,以降低高能γ射线产生的康普顿平台;

5、方法3)先使用放化分离的方法对目标核素进行纯化,再进行γ能谱测量对仅含目标核素的样品进行测量分析。...

【技术保护点】

1.一种基于射线衰减规律的低能γ射线能谱测量方法,其特征在于,包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的一种基于射线衰减规律的低能γ射线能谱测量方法,其特征在于:

3.根据权利要求2所述的一种基于射线衰减规律的低能γ射线能谱测量方法,其特征在于:

4.根据权利要求3所述的一种基于射线衰减规律的低能γ射线能谱测量方法,其特征在于:

【技术特征摘要】

1.一种基于射线衰减规律的低能γ射线能谱测量方法,其特征在于,包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的一种基于射线衰减规律的低能γ射线能谱测量方法,其特征在于:

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【专利技术属性】
技术研发人员:王春杰姜文刚余青江李雪松关清帝解峰余功硕梁建峰徐江
申请(专利权)人:西北核技术研究所
类型:发明
国别省市:

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