老化测试硬件性能数据采集与分析方法及系统技术方案

本发明专利技术提供了一种老化测试硬件性能数据采集与分析方法及系统，包括：步骤S1：创建硬件性能数据采集系统，利用所述硬件性能数据采集系统定期批量采集Android设备上的各项硬件性能数据；步骤S2：创建主动调度策略系统，利用所述主动调度策略系统在预设条件下触发预设工作任务；步骤S3：创建数据分析与处理系统，利用所述数据分析与处理系统基于采集到的Android设备上的各项硬件性能数据进行老化分析；步骤S4：创建数据展示系统，利用所述数据展示系统对预处理后的数据及分析结果以预设形式进行展示。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及硬件老化测试，具体地，涉及老化测试硬件性能数据采集与分析方法及系统。

技术介绍

1、在目前的硬件老化测试中，尤其是对于android设备来说，测试工艺通常涉及到一些重型应用的长时间运行，以模拟设备在真实环境下的使用情况。设备的性能指标，例如电池续航、处理器性能、内存使用效率等进行测试，以了解设备的可用寿命和可能出现的性能问题。然而，这种方法在效率和成本上存在一些问题，包括：测试时间长、设备需求多、成本高额等。此外，在数据分析方面，由于测试数据的体量大、复杂度高，人工分析难度大，效率低下。

2、现有的硬件老化测试技术主要包括模拟真实使用环境下的设备运行情况。这通常涉及到在设备上长时间运行一些造成大量计算、内存使用和电池消耗的程序。同时，监控设备性能并收集数据，包括电池状态、cpu使用率、内存使用情况等。之后，通过人工或者简单的数据分析方法进行数据清洗、归类、统计等，以得出设备的性能情况和潜在的硬件问题。

3、因此，现有的硬件老化测试技术存在周期长、成本高和效率低的问题。首先，模拟真实使用环境进行的硬件老化测试通常需要耗费本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种老化测试硬件性能数据采集与分析方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的老化测试硬件性能数据采集与分析方法，其特征在于，所述步骤S1采用：

3.根据权利要求2所述的老化测试硬件性能数据采集与分析方法，其特征在于，将硬件性能数据采集系统PerformanceDataService设置为低优先级；Android设备中使用JobScheduler或WorkManager管理低优先级的后台任务；

4.根据权利要求1所述的老化测试硬件性能数据采集与分析方法，其特征在于，所述方法还包括：利用所述硬件性能数据采集系统定期批量采集Android设备上的...

【技术特征摘要】

1.一种老化测试硬件性能数据采集与分析方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的老化测试硬件性能数据采集与分析方法，其特征在于，所述步骤s1采用：

3.根据权利要求2所述的老化测试硬件性能数据采集与分析方法，其特征在于，将硬件性能数据采集系统performancedataservice设置为低优先级；android设备中使用jobscheduler或workmanager管理低优先级的后台任务；

4.根据权利要求1所述的老化测试硬件性能数据采集与分析方法，其特征在于，所述方法还包括：利用所述硬件性能数据采集系统定期批量采集android设备上的各项硬件性能数据，并将采集到的数据存储在本地缓存中，按照一定时间间隔，将本地缓存中的数据采用数据压缩技术进行压...

【专利技术属性】
技术研发人员：钱建锋，任兴，
申请(专利权)人：上海精羿智讯科技有限公司，
类型：发明
国别省市：