一种纳米材料密度分布状态的评估分析方法技术

技术编号:43377685 阅读:17 留言:0更新日期:2024-11-19 17:55
本发明专利技术公开了一种纳米材料密度分布状态的评估分析方法,涉及纳米材料的技术领域,通过对待检测纳米材料进行预处理和区域分割,确保样品的均匀性和代表性,减少样品不均匀性对评估结果的影响,通过选择n组簇中心并结合密度评估数据集合,确定每个簇中心内纳米颗粒的数量Nks,并根据各簇中心内纳米颗粒的相对丰度Xdfd构建颗粒分布系数Kfxs,有效评估纳米颗粒的分布状态;通过特征提取获取待检测样本的有效表面积及孔隙率,并结合这两个参数构建结构状态系数Jzxs,从多维度评价纳米材料的结构特性和分布状态。通过训练后的模型计算获取待检测样本的总体密度分布评估指数Zmzs,确保模型具有较高的预测准确性和泛化能力。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及纳米材料的,具体为一种纳米材料密度分布状态的评估分析方法


技术介绍

1、在纳米科技和材料科学的领域中,纳米材料包括纳米颗粒、纳米管及纳米纤维等,由于其独特的物理和化学特性,广泛应用于电子、医学、能源和环境等多个行业。这些材料通常由纳米级颗粒构成,其尺寸通常在1至100纳米之间,纳米材料的结构和性质在很大程度上受到这些纳米颗粒的大小、形态、分散性和聚集状态的影响,这些纳米颗粒在材料内部的分布情况,将直接影响了纳米材料的整体性能,如机械强度、导电性、热导率和催化活性等。

2、在纳米材料中,结构及内部纳米颗粒的分布情况对其密度分布状态有着重要影响。然而,当前在评估和分析纳米材料的密度分布状态方面存在一些不足之处。传统的方法可能无法准确与快速地评估纳米材料的密度分布状态,导致评估结果不够精确,此外传统的方法往往依赖于显微镜观察或者简单的表面分析技术,这些方法在分辨率和数据处理能力上存在限制,难以多方面与精确地反映纳米材料内部的分布情况。


技术实现思路

1、针对现有技术的不足,本专利技术提供本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种纳米材料密度分布状态的评估分析方法,其特征在于:包括以下步骤,

2.根据权利要求1所述的一种纳米材料密度分布状态的评估分析方法,其特征在于:

3.根据权利要求1所述的一种纳米材料密度分布状态的评估分析方法,其特征在于:

4.根据权利要求3所述的一种纳米材料密度分布状态的评估分析方法,其特征在于:

5.根据权利要求4所述的一种纳米材料密度分布状态的评估分析方法,其特征在于:

6.根据权利要求3所述的一种纳米材料密度分布状态的评估分析方法,其特征在于:

7.根据权利要求1所述的一种纳米材料密度分布状态的评估分析方...

【技术特征摘要】

1.一种纳米材料密度分布状态的评估分析方法,其特征在于:包括以下步骤,

2.根据权利要求1所述的一种纳米材料密度分布状态的评估分析方法,其特征在于:

3.根据权利要求1所述的一种纳米材料密度分布状态的评估分析方法,其特征在于:

4.根据权利要求3所述的一种纳米材料密度分布状态的评估分析方法,其特征在于:

5.根据权利要求4所述的一种纳米材料密度分布状态的评估分析方法,其特征在于:

【专利技术属性】
技术研发人员:唐运珩贾义恩
申请(专利权)人:深圳市卓碳新材料有限公司
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1