基于延迟单元的芯片训练方法及装置制造方法及图纸

技术编号:43373266 阅读:25 留言:0更新日期:2024-11-19 17:53
本发明专利技术提供一种基于延迟单元的芯片训练方法及装置,属于芯片测试技术领域,本发明专利技术的基于延迟单元的芯片训练方法,通过增加延迟单元来扩展初始信号眼图的宽度,可以确保对信号的全面采集,包括了信号的完整周期性变化,从而获得更精确的训练数据,在分段扫描出眼图的情况下确定所用的目标指针位置,有助于准确定位最佳的训练区域,实现了将眼图信息映射为完全与延迟单元相关,不涉及到指针与延迟单元换算的过程,继续增加延迟单元扫满两个眼宽,并在目标指针位置的基础上再加一个数据宽度来扫满整个眼的范围,确保了所得到的目标信号眼图涵盖了整个信号眼图的范围,提高了眼图结果的全面性和可靠性,有助于确保训练的准确性和可靠性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及芯片测试,尤其涉及一种基于延迟单元的芯片训练方法及装置


技术介绍

1、在存储芯片的高速传输中,训练是必不可少的一环,训练的好坏直接决定了训练结束后正常读写的稳定性和可靠性。而现有的训练方法通常使用有限数量的延迟单元来配合存储器指针的变化进行训练。

2、训练的眼图,通常是本端(数据发送方)与对端(数据接收端),通过收发确定的数据交互,来判断线上延迟的大小并通过补偿延迟的方式,使最终结果达到预期。假设与对端约定的数据如被采样信号,正确的时候应当采样信号的箭头标识上升沿落在标定的区间中,也就是采样信号在不断增加延迟的过程中去采集被采样信号,在这个过程中箭头位置会扫过标识区域,而这个结果就是眼宽,而这个眼宽所对应的延迟即为训练需要的结果。

3、通常情况下,以读为例,是通过读指针和延迟单元配合完成,采样信号的改变是通过延迟单元,随后通过改变读指针,进而达到预期的延迟效果。但这种方法会碰到一个问题,当被采样信号和采样信号的周期由于工作环境、工艺等因素发生变化,采样数据偏小,此时扫出来的眼宽偏小。如果采样信号的周期偏小,会存在重复本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种基于延迟单元的芯片训练方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的延迟单元的芯片训练方法,其特征在于,所述基于所述初始信号眼图,增加延迟单元到推满一个目标数据宽度的延迟后,记录眼图的结果,包括:

3.根据权利要求1所述的延迟单元的芯片训练方法,其特征在于,所述继续增加延迟单元扫满两个眼宽,以在目标指针位置的基础上再加一个数据宽度来扫满整个眼的范围,得到目标信号眼图,包括:

4.根据权利要求3所述的延迟单元的芯片训练方法,其特征在于,所述继续增加延迟单元扫满两个眼宽,包括:

5.根据权利要求1所述的延迟单元的芯片训练方法,其特征...

【技术特征摘要】

1.一种基于延迟单元的芯片训练方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的延迟单元的芯片训练方法,其特征在于,所述基于所述初始信号眼图,增加延迟单元到推满一个目标数据宽度的延迟后,记录眼图的结果,包括:

3.根据权利要求1所述的延迟单元的芯片训练方法,其特征在于,所述继续增加延迟单元扫满两个眼宽,以在目标指针位置的基础上再加一个数据宽度来扫满整个眼的范围,得到目标信号眼图,包括:

4.根据权利要求3所述的延迟单元的芯片训练方法,其特征在于,所述继续增加延迟单元扫满两个眼宽,包括:

5.根据权利要求1所述的延迟单元的芯片训练方法,其特征在于,所述在分段扫描出眼图的情况下确定所用的目标指针位置,包括:

6.根据权利要求1...

【专利技术属性】
技术研发人员:秦宗显王晓阳何亚军
申请(专利权)人:上海奎芯集成电路设计有限公司
类型:发明
国别省市:

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