一种工业摄影测量系统校准装置制造方法及图纸

本技术公开一种工业摄影测量系统校准装置，包括：立体框架；具有多个标准点的基准尺；安装件，所述安装件设置在所述立体框架上，所述安装件与所述基准尺轴向的两端可拆卸连接；通过所述基准尺轴向的两端在所述安装件内移动并被锁定，以调节所述基准尺在所述立体框架的位置。本申请的基准尺通过安装件可拆卸的设置在立体框架上，方便拆除和安装，可以更换不同规格的基准尺，且基准尺的轴向两端能够在安装件上移动，即便基准尺在安装后出现倾斜也能够通过移动基准尺的轴向，调节基准尺在立体框架上的位置，无需大幅度的拆卸立体框架，方便基准尺调节和更换，能够有效节省测量校准的时间。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及测量系统校准设备领域，具体涉及一种工业摄影测量系统校准装置。

技术介绍

1、工业摄影测量系统指用于工业精密测量的摄影测量系统。工业摄影测量系统具有一个或多个数字光学成像系统，利用拍摄获取的一幅或多幅数字图像，经过图像处理手段提取被测物体的特征点，经过平差解算等后得到被测物体特征点的坐标或曲面的点云等，基于摄影测量原理，利用数字相机获取被测对象表面点的坐标，经过软件处理计算，得到表面点的三维坐标。

2、现有工业摄影测量系统中常用方式是构建一个立体空间的框架，在框架上设置基准尺，通过基准尺上的标志点以测量被测对象的空间长度，基准尺是直接固定设置在框架上的，以便具有设定的标准，但不利于基准尺的替换和更新，例如标志点不适用于测量被测对象时更换基准尺，就需要大幅度拆卸框架，或者基准尺受外界磕碰后影响精度也不利于调节，增加了更换以及维护的时长。

技术实现思路

1、本技术的工业摄影测量系统校准装置，可有效解决
技术介绍
中基准尺设置在框架上操作不便的问题。

2、根据本技术的一个方面，提供了一种本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种工业摄影测量系统校准装置，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的工业摄影测量系统校准装置，其特征在于，所述基准尺轴向的两端设有连接头，所述连接头可拆卸的设置在所述安装件内，通过所述连接头在所述安装件内移动以带动所述基准尺移动。

3.根据权利要求2所述的工业摄影测量系统校准装置，其特征在于，所述安装件包括：

4.根据权利要求3所述的工业摄影测量系统校准装置，其特征在于，所述套体设有第一调节件和/或第二调节件，所述连接头通过与所述第一调节件和/或第二调节件抵接，以分别定位所述基准尺的轴向距离和/或径向距离。

5.根据权利要求4所述...

【技术特征摘要】

1.一种工业摄影测量系统校准装置，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的工业摄影测量系统校准装置，其特征在于，所述基准尺轴向的两端设有连接头，所述连接头可拆卸的设置在所述安装件内，通过所述连接头在所述安装件内移动以带动所述基准尺移动。

3.根据权利要求2所述的工业摄影测量系统校准装置，其特征在于，所述安装件包括：

4.根据权利要求3所述的工业摄影测量系统校准装置，其特征在于，所述套体设有第一调节件和/或第二调节件，所述连接头通过与所述第一调节件和/或第二调节件抵接，以分别定位所述基准尺的轴向距离和/或径向距离。

5.根据权利要求4所述的工业摄影测量系统校准装置，其特征在于，所述套体还设有第一调节孔和/或第二调节孔，所述第一调节件和/或所述第二调节件分别设置在所述第一调节孔和/或第二调节孔内，通过移动所述第一调节件和/或所述第二调节件以调节所述连接头在所述套体的位置。

6.根据权利要求5所述的工业摄影测量系统校准装置，其特征在于，所述套体上还设有第二锁件，所...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙彦锋，范斌斌，牛鹏磊，周颖熙，余庆滨，何海坚，杨尚维，黄耀坤，
申请(专利权)人：广东省计量科学研究院华南国家计量测试中心，
类型：新型
国别省市：