【技术实现步骤摘要】
本技术涉及覆晶薄膜卷带，具体涉及一种覆晶薄膜卷带用改进型电测工装及系统。
技术介绍
1、在对生产的覆晶薄膜卷带进行短断路测试的过程中，使用的测试治具通常为探针卡(probe card)，探针卡(probe card)上设置有若干根针脚(pin针)，将其与覆晶薄膜卷带上的铜质凸起接触，此时两者电气连接在一起，由于探针卡(probe card)还与电阻测试仪的外接电源线电气连接在一起，因此探针卡(probe card)可将覆晶薄膜卷带上的铜质凸起与电阻测试仪的外接电源线电气连接在一起，进而通过电阻测试仪对覆晶薄膜卷带进行短断路测试，但探针卡(probe card)上的针脚(pin针)通常十分细小，在将探针卡(probecard)上的针脚(pin针)与覆晶薄膜卷带上的铜质凸起接触的过程中，若稍有不慎，则会造成针脚(pin针)的损坏，从而导致探针卡(probecard)无法继续使用。
技术实现思路
1、本技术的目的在于提供一种覆晶薄膜卷带用改进型电测工装及系统，其设计了弧形托盘与覆晶薄膜卷带上的铜...
【技术保护点】
1.一种覆晶薄膜卷带用改进型电测工装，包括将覆晶薄膜卷带（10）上的铜质凸起（12）和电阻测试仪（11）上的外接电源线电气连接在一起的导电组件（6），其特征在于，所述导电组件（6）的一端上设置有可与覆晶薄膜卷带（10）上的铜质凸起（12）电气连接的弧形托盘（601），所述弧形托盘（601）上的凹槽的槽面可与覆晶薄膜卷带（10）上的铜质凸起（12）的外表面贴合。
2.根据权利要求1所述的一种覆晶薄膜卷带用改进型电测工装，其特征在于，还包括插板（4），所述插板（4）的顶面上开设有若干个进给螺纹孔（5），所述导电组件（6）上的远离弧形托盘（601）的一端上设置有...
【技术特征摘要】
1.一种覆晶薄膜卷带用改进型电测工装，包括将覆晶薄膜卷带（10）上的铜质凸起（12）和电阻测试仪（11）上的外接电源线电气连接在一起的导电组件（6），其特征在于，所述导电组件（6）的一端上设置有可与覆晶薄膜卷带（10）上的铜质凸起（12）电气连接的弧形托盘（601），所述弧形托盘（601）上的凹槽的槽面可与覆晶薄膜卷带（10）上的铜质凸起（12）的外表面贴合。
2.根据权利要求1所述的一种覆晶薄膜卷带用改进型电测工装，其特征在于，还包括插板（4），所述插板（4）的顶面上开设有若干个进给螺纹孔（5），所述导电组件（6）上的远离弧形托盘（601）的一端上设置有可与电阻测试仪（11）上的外接电源线电气连接的铜质螺杆（602），所述铜质螺杆（602）可螺纹配合在进给螺纹孔（5）内。
3.根据权利要求2所述的一种覆晶薄膜卷带用改进型电测工装，其特征在于，还包括底座（1），所述底座（1）的顶面上开设有若干个可供插板（4）插入的插槽（2），所述插槽（2）的底面上设置有第一磁铁块（7），所述插板（4）的底面上设置有可吸附在第一磁铁块（7）上的第二磁铁块（8）。
4.根据权利要求3所述的一种覆晶薄膜卷带用改进型电测工装，其特征在于，所述插槽（2）的底面上开...
【专利技术属性】
技术研发人员：兰强强，
申请(专利权)人：合肥颀材科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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