芯片业务性能的测试方法及装置制造方法及图纸

本申请实施例提供了一种芯片业务性能的测试方法，其中，该方法包括：在响应目标测试请求为目标测试用例筛选运行参数的过程中，根据目标芯片的参考运行信息以及参考运行参数为目标测试用例预测目标运行参数；控制服务器按照目标运行参数对目标芯片运行目标测试用例，得到目标芯片的目标运行信息；根据目标运行信息预测目标运行参数和目标测试请求之间的目标匹配信息；在目标匹配信息用于指示目标运行参数和目标测试请求之间满足目标匹配条件的情况下，控制服务器调用目标测试用例和目标运行参数测试目标芯片在目标业务模式下的目标业务性能。通过本申请，解决对芯片业务性能的测试效率较低问题，达到提高对芯片业务性能的测试效率的效果。

【技术实现步骤摘要】

本申请实施例涉及计算机领域，具体而言，涉及一种芯片业务性能的测试方法及装置。

技术介绍

1、随着集成电路设计复杂度的不断增加，如何有效地验证芯片设计的正确性成为了一个关键问题。在验证芯片设计正确性的过程中存在一个至关重要的指标——覆盖率，覆盖率包括代码覆盖率和功能覆盖率，用于评估验证工作的完整性和有效性。代码覆盖率是指在验证过程中测试用例覆盖到的代码行或代码块的比例。通过代码覆盖率的评估，可以确定哪些部分的代码被验证覆盖到，帮助验证工程师了解验证的全面性和代码执行路径的覆盖情况。通过功能覆盖率的评估，可以确保验证工作覆盖到了设计规格中规定的各种功能和场景，验证了芯片的预期行为。在对芯片的性能进行测试时如果覆盖率越高那么验证到的内容也就越多，结果也就会相对准确。相关技术中，在使用测试用例对芯片的业务性能进行测试是，会根据经验对测试用例的运行参数设置为经验值，从而使得测试用例按照该参数运行从而对芯片的覆盖率达到一个较高的水平，但是这种情况下的覆盖率可能并非一个收敛的最优值，使得对芯片的性能测试效果不理想。

技术实现思路...

【技术保护点】

1.一种芯片业务性能的测试方法，其特征在于，

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，

7.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，

8.一种芯片业务性能的测试装置，其特征在于，

9.一种计算机可读存储介质，其特征在于，

10.一种电子设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算...

【技术特征摘要】

1.一种芯片业务性能的测试方法，其特征在于，

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

6.根据权利要求5所述的方...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘胜军，曾昭贵，姚香君，夏丽煖，刘世伟，孔德智博，董志豪，
申请(专利权)人：山东云海国创云计算装备产业创新中心有限公司，
类型：发明
国别省市：