谐振器的低温环境测试系统和方法技术方案

本申请提供一种谐振器的低温环境测试系统和方法，涉及谐振器特性测试技术领域。所述系统包括驱动电路、制冷平台以及温控板；驱动电路，与待测试谐振器连接，用于为待测试谐振器提供输入信号以驱动待测试谐振器；制冷平台，用于放置待测试谐振器和驱动电路，使待测试谐振器处于目标测试温度下；温控板，与控制平台制冷平台连接，用于获取制冷平台的实时温度，并控制制冷平台的实时温度为目标测试温度。通过将待测试谐振器与驱动电路均放置在制冷平台的低温环境中，缩短谐振器与驱动电路之间的距离，降低其他因素干扰，提高谐振器测试结果的准确性。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及谐振器特性测试，尤其涉及一种谐振器的低温环境测试系统和方法。

技术介绍

1、谐振器是指产生谐振频率的电子元件，谐振器已经普遍应用在很多的方面，特别是数字电路相当成熟的今天，谐振器一般作为电路时钟的基础，为各种设备提供精准的时钟节拍。谐振器的稳定性直接决定着时间是否精确或者设备测量是否准确。而影响谐振器稳定性的主要因素是温度，因此，在实际应用中，需要对谐振器在低温下进行测量和标定，以获得谐振器在不同温度下的精确性和稳定性的参数，以便在电路中进行相应的补偿，保证最终电路应用的精确。

2、在相关技术中，通常将谐振器以及其夹具放置在高低温箱中进行测试，或者使用液氮等低温介质进行测试。置于高低温箱外的测试电路板通过长导线与箱内的谐振器连接，对谐振器的性能进行测试。由于谐振器本身的敏感性，较长的导线往往会带来额外的电容和电感，从而将改变谐振效果，使得从测试电路板获取的数据不能真实反应谐振器本身的特性。

技术实现思路

1、本申请提供一种谐振器的低温环境测试系统和方法，用以解决现有技术中存在的谐振器测试本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种谐振器的低温环境测试系统，其特征在于，所述系统包括驱动电路、制冷平台以及温控板；

2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述制冷平台包括密封外壳、半导体制冷片、印刷电路板以及温度传感器；所述半导体制冷片设置在所述密封外壳上，且所述半导体制冷片的制冷面在所述密封外壳的内侧，所述半导体制冷片的发热面在所述密封外壳的外侧，所述半导体制冷片与所述温控板连接；

3.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，所述制冷平台还包括散热装置；所述散热装置置于所述密封外壳的外侧，且所述散热装置与所述半导体制冷片的发热面连接，用于对所述半导体制冷片散热。p>

4.根据权...

【技术特征摘要】

1.一种谐振器的低温环境测试系统，其特征在于，所述系统包括驱动电路、制冷平台以及温控板；

2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述制冷平台包括密封外壳、半导体制冷片、印刷电路板以及温度传感器；所述半导体制冷片设置在所述密封外壳上，且所述半导体制冷片的制冷面在所述密封外壳的内侧，所述半导体制冷片的发热面在所述密封外壳的外侧，所述半导体制冷片与所述温控板连接；

3.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，所述制冷平台还包括散热装置；所述散热装置置于所述密封外壳的外侧，且所述散热装置与所述半导体制冷片的发热面连接，用于对所述半导体制冷片散热。

4.根据权利要求3所述的系统，其特征在于，所述散热装置包括风扇和散热器。

5.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，所述制冷平台还包括第一金属片和第二金属片；所述第一金属片为所述密封外壳的一部分，所述第一金属片与所述半导体制冷片的发...

【专利技术属性】
技术研发人员：唐科，
申请(专利权)人：上海摩仑工业技术有限公司，
类型：发明
国别省市：