评价指标的确定方法、装置、电子设备及存储介质制造方法及图纸

本申请提供了一种评价指标的确定方法、装置、电子设备及存储介质，方法包括：获取针对目标样本分别在多组光源下的待测图像；目标样本包括缺陷样本和正常样本；将待测图像输入至预先训练好的检测模型中，得到针对缺陷样本的检测结果和针对正常样本的检测结果；基于正常样本的检测结果，得到针对检测模型的第一指标；基于缺陷样本的检测结果，得到针对检测模型的第二指标；基于第一指标、第二指标和目标样本的总数量，得到针对检测模型的第三指标；将第一指标、第二指标和第三指标中的至少之一作为针对检测模型的评价指标；评价指标用于表征检测模型的性能优劣。能够实现对检测模型性能的高效评价。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及图像检测，尤其涉及一种评价指标的确定方法、装置、电子设备及存储介质。

技术介绍

1、在诸如笔记本电脑等产品在工厂端组装生产时，因为供货商来料或机器运行或人为等不可控因素，产品外观会产生种类繁多的表面缺陷。为了保证产品的质量，对其进行外观检测至关重要。相关技术中，通过深度检测模型对产品进行外观检测，为了保证检测的准确性，通常还需要人工针对检测结果进行统计复核，以确定深度检测模型的性能是否达到要求。但是人工复核所需时间较长，且准确率较低，整体效率较慢。因此，如何实现对深度检测模型性能的高效评价成为亟待解决的技术问题。

技术实现思路

1、本申请提供了一种评价指标的确定方法、装置、电子设备及存储介质，以至少解决现有技术中存在的以上技术问题。

2、根据本申请的第一方面，提供了一种评价指标的确定方法，所述方法包括：

3、获取针对目标样本分别在多组光源下的待测图像；所述目标样本包括缺陷样本和正常样本；

4、将所述待测图像输入至预先训练好的检测模型中，得到针对缺陷样本的检测结果和本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种评价指标的确定方法，其特征在于，所述方法包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于缺陷样本的检测结果，得到针对所述检测模型的第二指标，包括：

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于所述检测结果以及所述缺陷样本的检测参考结果，得到检测结果与检测参考结果的目标交并比，包括：

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述基于所述缺陷样本的检测结果中的缺陷区域以及检测参考结果中的缺陷参考区域，得到检测结果与检测参考结果的目标交并比，包括：

5.根据权利要求2至4任一项所述的方法，其特征在于，所述缺陷样本的数量为...

【技术特征摘要】

1.一种评价指标的确定方法，其特征在于，所述方法包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于缺陷样本的检测结果，得到针对所述检测模型的第二指标，包括：

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于所述检测结果以及所述缺陷样本的检测参考结果，得到检测结果与检测参考结果的目标交并比，包括：

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述基于所述缺陷样本的检测结果中的缺陷区域以及检测参考结果中的缺陷参考区域，得到检测结果与检测参考结果的目标交并比，包括：

5.根据权利要求2至4任一项所述的...

【专利技术属性】
技术研发人员：颜帅，张伟，李飞，吴海涛，程前例，梁明涛，
申请(专利权)人：合肥联宝信息技术有限公司，
类型：发明
国别省市：