【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及考古勘探，尤其涉及一种高精度考古地层剖面图快速生成方法及系统。
技术介绍
1、地层剖面图是地质学中重要的图件之一，是一种显示地表或一定深度内地层构造情况的图件，它是研究地层、岩体和构造的基础资料，这种图件对于分析地层构造、编制其他综合地质图件、进行采掘设计、确定煤柱留设和布置矿井地质勘探等方面具有重要意义。
2、中国专利公告号：cn118379447a，公开了一种三维地质剖面图的生成方法，包括：识别地质剖面图的外轮廓信息，利用外轮廓信息将地质剖面图拆分为多个多边形；利用训练完成的地质符号识别模型识别每个多边形，获取每个多边形的二维地质符号的名称；地质符号识别模型的输入为二维地质符号，输出为二维地质符号的名称；利用二维地质符号的名称，匹配地质实景照片；识别每个多边形上的纹路信息，根据纹路信息扭曲地质实景照片，填充至每个多边形，拼接得到实景地质剖面图；拼接不同方向的实景地质剖面图，得到目标区域的三维地质剖面图。本公开通过根据地质剖面图匹配实景照片，运用实景照片渲染和填充剖面图，通过多个方向的实景地质剖面图生成三维地质剖面图，再现真实场景。
3、但是，现有技术中还存在以下问题，
4、剖面图大多通过钻孔获得，传统的探孔数据处理方法通常耗时且效率较低，难以快速准确地生成地层剖面图，导致地层剖面图的生成精度和效率受到限制。
技术实现思路
1、为此，本专利技术提供一种高精度考古地层剖面图快速生成方法，用以解决传统的探孔数据处理方法通常耗时且效率较
2、为实现上述目的，一方面本专利技术提供一种高精度考古地层剖面图快速生成方法，另一方面本专利技术提供一种高精度考古地层剖面图快速生成系统，其包括：
3、步骤s1，对目标考古区域的若干钻孔点进行钻探采样，以获取不同采样点的坐标值以及所采样本的地层特征，包括，土壤类别、土壤粒径以及湿度；
4、步骤s2，基于子考古区域中不同基准方向上采样点对应地层特征的离散差异确定土质衍生均匀表征系数，以判定子考古区域的土质均匀类别；
5、步骤s3，在子考古区域中构建若干虚拟衍生采样点，依据不同子考古区域的土质均匀类别确定各虚拟衍生采样点对应的模拟地层特征，包括，
6、确定采样点不同基准方向的邻接采样点，以对比地层特征的差异识别特征采样点，以特征采样点为中心构建方形空间，将所述特征采样点的地层特征确定为所述方形空间中各虚拟衍生采样点的模拟地层特征；
7、记录未确定模拟地层特征的虚拟衍生采样点，基于各所述虚拟衍生采样点与各采样点的距离筛选参考采样点，基于参考采样点的地层特征确定所述虚拟衍生采样点的模拟地层特征；
8、或，提取各采样点的地层特征，确定表征地层特征，将表征地层特征确定为所述子考古区域内各虚拟衍生采样点对应的模拟地层特征；
9、步骤s4，基于若干采样点以及虚拟衍生采样点建立目标考古区域的地层三维模型，针对所述地层三维模型进行切割，获取不同切割面下对应的地层剖面图。
10、进一步地，确定土质衍生均匀表征系数的过程包括，
11、构建若干参考线；
12、求解位于同一参考线上若干采样点的土壤粒径标准差以及湿度标准差，得到针对各参考线的土壤粒径标准差均值以及湿度标准差均值；
13、将土壤粒径标准差均值与土壤粒径标准差阈值之比确定为第一均匀表征特征；
14、将湿度标准差均值与湿度标准差阈值之比确定为第二均匀表征特征；
15、将所述第一均匀表征特征以及第二均匀表征特征加权求和得到土质衍生均匀表征系数；
16、其中，参考线至少与任一基准坐标轴平行，且参考线至少经过两个采集点。
17、进一步地，基于土质衍生均匀表征系数判定子考古区域的土质均匀类别，其中，
18、若土质衍生均匀表征系数小于或等于基准土质衍生均匀表征系数，则判定所述土质均匀类别为均匀土质；
19、若土质衍生均匀表征系数大于基准土质衍生均匀表征系数，则判定所述土质均匀类别为不均匀土质。
20、进一步地，依据不同子考古区域的土质均匀类别确定各虚拟衍生采样点对应的模拟地层特征，其中，
21、若所述土质均匀类别为均匀土质，则提取各采样点的地层特征，确定表征地层特征，将表征地层特征确定为所述子考古区域内各虚拟衍生采样点对应的模拟地层特征；
22、若所述土质均匀类别为不均匀土质，以特征采样点为中心构建方形空间，将所述特征采样点的地层特征确定为所述方形空间中各虚拟衍生采样点的模拟地层特征，记录未确定模拟地层特征的虚拟衍生采样点，基于各所述虚拟衍生采样点与各采样点的距离筛选参考采样点，基于参考采样点的地层特征确定所述虚拟衍生采样点的模拟地层特征。
23、进一步地，确定采样点不同基准方向的邻接采样点，以对比地层特征的差异识别特征采样点的过程包括，
24、分别确定所述采样点与各所述邻接采样点对应地层特征的差异；
25、将符合差异条件的采样点确定为特征采样点；
26、其中，所述差异条件包括所述采样点与各所述邻接采样点的土壤类别均相同且所述采样点与各所述邻接采样点的土壤粒径差值处于预定粒径差值范围且所述采样点与各所述邻接采样点的湿度差值处于预定湿度差值范围。
27、进一步地，以特征采样点为中心构建方形空间的过程包括，
28、计算特征采样点与最远邻接采样点的距离；
29、以特征采样点为中心，以所述距离为边长构建方形空间；
30、其中，所述邻接采样点与特征采样点的特征差异符合所述差异条件。
31、进一步地，筛选参考采样点，基于参考采样点的地层特征确定所述虚拟衍生采样点的模拟地层特征的过程包括，
32、确定所述虚拟衍生采样点与各所述采样点的距离；
33、依据距离升序排列各采样点对应的序号，得到采样点序列；
34、由所述采样点序列首端筛选预定数量的序号，将已筛选序号对应的采样点确定为参考采样点；
35、将各参考采样点中占比最大的土壤类别确定为所述虚拟衍生采样点的土壤类别；
36、将各参考采样点的土壤粒径均值确定为所述虚拟衍生采样点的土壤粒径；
37、将各参考采样点的湿度均值确定为所述虚拟衍生采样点的湿度。
38、进一步地，所述步骤s3中，确定表征地层特征的过程包括，
39、将各采样点中占比最大的土壤类别确定为各所述虚拟衍生采样点的土壤类别；
40、将各采样点的土壤粒径均值确定为各所述虚拟衍生采样点的土壤粒径；
41、将各采样点的湿度均值确定为所述虚拟衍生采样点的湿度。
42、进一步地，所述步骤s4中，建立目标考古区域的地层三维模型的过程包括，
43、基于采样点以及各所述虚拟本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种高精度考古地层剖面图快速生成方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的高精度考古地层剖面图快速生成方法，其特征在于，所述步骤S2中，确定土质衍生均匀表征系数的过程包括，
3.根据权利要求1所述的高精度考古地层剖面图快速生成方法，其特征在于，所述步骤S2中，基于土质衍生均匀表征系数判定子考古区域的土质均匀类别，其中，
4.根据权利要求1所述的高精度考古地层剖面图快速生成方法，其特征在于，所述步骤S3中，依据不同子考古区域的土质均匀类别确定各虚拟衍生采样点对应的模拟地层特征，其中，
5.根据权利要求1所述的高精度考古地层剖面图快速生成方法，其特征在于，所述步骤S3中，确定采样点不同基准方向的邻接采样点，以对比地层特征的差异识别特征采样点的过程包括，
6.根据权利要求5所述的高精度考古地层剖面图快速生成方法，其特征在于，所述步骤S3中，以特征采样点为中心构建方形空间的过程包括，
7.根据权利要求1所述的高精度考古地层剖面图快速生成方法，其特征在于，所述步骤S3中，筛选参考采样点，基于参考采样点的地层
8.根据权利要求1所述的高精度考古地层剖面图快速生成方法，其特征在于，所述步骤S3中，确定表征地层特征的过程包括，
9.根据权利要求1所述的高精度考古地层剖面图快速生成方法，其特征在于，所述步骤S4中，建立目标考古区域的地层三维模型的过程包括，
10.一种应用权利要求1-9任一项所述高精度考古地层剖面图快速生成方法的系统，其特征在于，包括，
...【技术特征摘要】
1.一种高精度考古地层剖面图快速生成方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的高精度考古地层剖面图快速生成方法，其特征在于，所述步骤s2中，确定土质衍生均匀表征系数的过程包括，
3.根据权利要求1所述的高精度考古地层剖面图快速生成方法，其特征在于，所述步骤s2中，基于土质衍生均匀表征系数判定子考古区域的土质均匀类别，其中，
4.根据权利要求1所述的高精度考古地层剖面图快速生成方法，其特征在于，所述步骤s3中，依据不同子考古区域的土质均匀类别确定各虚拟衍生采样点对应的模拟地层特征，其中，
5.根据权利要求1所述的高精度考古地层剖面图快速生成方法，其特征在于，所述步骤s3中，确定采样点不同基准方向的邻接采样点，以对比地层特征的差异识别特征采样点的过程包括...
【专利技术属性】
技术研发人员：张学宝，包富华，魏恒森，王位宁，郑闯闯，张晨，曹永研，王文博，樊姣，
申请(专利权)人：西安云图信息技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。