一种用于偏振探测的红外双波段多焦点全斯托克斯超透镜制造技术

技术编号:43346700 阅读:44 留言:0更新日期:2024-11-15 20:44
本发明专利技术公开一种用于偏振探测的红外双波段多焦点全斯托克斯超透镜,涉及红外偏振探测领域。该超透镜包括:基底和多个亚波长阵列;第一亚波长阵列、第二亚波长阵列和第三亚波长阵列在基底的同一侧依次设置;第一亚波长阵列、第二亚波长阵列和第三亚波长阵列均有多个超像元组成;当双波段不同偏振态的待检测入射光穿过基底到达各亚波长阵列时,每一个波段被检测的入射光在超透镜的焦平面的不同位置形成六个焦点;其中,各焦点对应每一个波段被检测的入射光的六个偏振分量;根据同一焦平面内六个偏振分量的强度,计算斯托克斯参数,确定每一个波段被检测的入射光的方位角和椭偏角的偏振态数据。本发明专利技术实现了同时对红外双波段的入射光偏振态的探测。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及红外偏振探测领域,特别是涉及一种用于偏振探测的红外双波段多焦点全斯托克斯超透镜


技术介绍

1、红外偏振检测技术利用目标辐射的偏振特征增加了目标物的信息量,提高了目标与背景的对比度,这非常有利于目标的识别和检测。在军事和民用领域展现出的广阔应用前景。传统的偏振检测系统需要包括许多偏振元件,例如:波片、偏振器、分束器、检偏器等,这导致了光学系统结构复杂,而且体积较大。由于超表面具有在亚波长尺度上操纵振幅、相位和偏振的能力,这为解决偏振探测系统复杂化、大型化提供了一个很好的思路。因此利用超表面进行光的偏振探测已成为一种发展趋势。

2、基于偏振光学的应用,已经开发了大量的全斯托克斯超表面。在过去的几年里,已经实现了各种基于超表面的偏振检测。目前,大多数红外偏振态检测的相关研究,其工作波长在中波或长波红外,而且这些研究受限于较小的波长带宽范围。使用红外双波段的偏振探测可以为获得准确目标信息提高一个新的自由度,是增加目标信息,降低探测虚警率的重要途经之一。因此,在红外波段实现中波和长波红外的偏振检测仍是一个需要解决的问题


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【技术保护点】

1.一种用于偏振探测的红外双波段多焦点全斯托克斯超透镜,其特征在于,所述超透镜包括:基底和多个亚波长阵列;所述多个亚波长阵列包括第一亚波长阵列、第二亚波长阵列和第三亚波长阵列;

2.根据权利要求1所述的用于偏振探测的红外双波段多焦点全斯托克斯超透镜,其特征在于,所述超透镜的相位为:

3.根据权利要求1所述的用于偏振探测的红外双波段多焦点全斯托克斯超透镜,其特征在于,所述第二亚波长阵列是通过将所述第一亚波长阵列旋转45°后得到的。

4.根据权利要求1所述的用于偏振探测的红外双波段多焦点全斯托克斯超透镜,其特征在于,所述基底、所述第一亚波长阵列、所述第二亚...

【技术特征摘要】

1.一种用于偏振探测的红外双波段多焦点全斯托克斯超透镜,其特征在于,所述超透镜包括:基底和多个亚波长阵列;所述多个亚波长阵列包括第一亚波长阵列、第二亚波长阵列和第三亚波长阵列;

2.根据权利要求1所述的用于偏振探测的红外双波段多焦点全斯托克斯超透镜,其特征在于,所述超透镜的相位为:

3.根据权利要求1所述的用于偏振探测的红外双波段多焦点全斯托克斯超透镜,其特征在于,所述第二亚波长阵列是通过将所述第一亚波长阵列旋转45°后得到的。

4.根据权利要求1所述的用于偏振探测的红外双波段多焦点全斯托克斯超透镜,其特征在于,所述基底、所述第一亚波长阵列、所述第二亚波长阵列和所述第三亚波长阵列的材料均采用红外波段的高透过率材料。

5.根据权利要求1所述的用于偏振探测的红外双波段多焦点全斯托克斯超透镜,其特征在于,各所述超像元均由两种或者两种形状以上的单元结构相互组合而成。

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【专利技术属性】
技术研发人员:梁中翥郭思妤徐海阳史晓燕杨福明马剑钢付申成刘益春
申请(专利权)人:东北师范大学
类型:发明
国别省市:

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