一种多维仿真的VCSEL芯片故障点预警系统技术方案

本申请提供了一种多维仿真的VCSEL芯片故障点预警系统，涉及半导体激光器技术领域，包括：芯片结构获取模块，用于获取目标VCSEL芯片的芯片结构信息；有限元分析模块，用于生成有限元仿真模型；失效模式采集模块，用于采集芯片失效模式；失效仿真模块，用于建立失效决策预警器；多维监测模块，用于采集多维监测数据；失效预警模块，用于进行芯片失效模式识别和故障预警决策，输出预警信号。通过本申请可以解决现有技术中存在由于难以有效区分可逆失效模式和不可逆失效模式，导致在芯片工作异常时难以及时做出针对性预警决策的技术问题，达到准确进行可逆失效的恢复，同时提前预防不可逆损坏，保证芯片运行安全的技术效果。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及半导体激光器，尤其涉及一种多维仿真的vcsel芯片故障点预警系统。

技术介绍

1、随着电子设备、光通信技术和光子器件的发展，垂直腔面发射激光器（vcsel芯片）在光通信、光互连、传感和3d成像等领域的应用日益广泛。vcsel具有高效率、低功耗、阵列集成的优点，因而在数据中心、高速网络传输以及激光雷达等应用场景中受到广泛关注。

2、目前，vcsel芯片在高频率、长时间的工作环境下，常常会面临性能下降或失效的挑战。尤其是在高温、高电流密度等苛刻工作条件下，芯片容易发生热损伤、电极损坏或谐振腔衰减等问题。这些失效问题不仅会影响vcsel的稳定性和工作寿命，还可能导致严重的系统故障，增加维修成本。尽管现有技术中已经通过改善散热设计、优化电极材料等手段缓解了一部分失效问题，但在实际应用中，仍然难以全面预防和监测芯片的失效。

3、特别是，目前的失效监测技术大多依赖于多维参数的阈值判断，难以有效区分可逆失效模式和不可逆失效模式，导致在芯片工作异常时难以及时做出针对性的恢复或停机决策。

技术实现思路...

【技术保护点】

1.一种多维仿真的VCSEL芯片故障点预警系统，其特征在于，包括：

2.如权利要求1所述的一种多维仿真的VCSEL芯片故障点预警系统，其特征在于，所述可逆失效模式为通过外部干预或自我修复恢复到正常工作状态的故障模式；所述不可逆失效模式为导致所述目标VCSEL芯片的永久性损坏的故障模式。

3.如权利要求1所述的一种多维仿真的VCSEL芯片故障点预警系统，其特征在于，所述失效仿真模块还用于：

4.如权利要求3所述的一种多维仿真的VCSEL芯片故障点预警系统，其特征在于，还包括决策优化模块，所述决策优化模块用于：

5.如权利要求4所述的一种多维仿...

【技术特征摘要】

1.一种多维仿真的vcsel芯片故障点预警系统，其特征在于，包括：

2.如权利要求1所述的一种多维仿真的vcsel芯片故障点预警系统，其特征在于，所述可逆失效模式为通过外部干预或自我修复恢复到正常工作状态的故障模式；所述不可逆失效模式为导致所述目标vcsel芯片的永久性损坏的故障模式。

3.如权利要求1所述的一种多维仿真的vcsel芯片故障点预警系统，其特征在于，所述失效仿真模块还用于：

4.如权利要求3所述的一种多维仿真的vcsel芯片故障点预警系统，其特征在于，...

【专利技术属性】
技术研发人员：莫思铭，朱天文，姚腾飞，唐杰，
申请(专利权)人：江苏永鼎股份有限公司，
类型：发明
国别省市：