【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及触控输入设备的触控测试领域，特别涉及一种测试设备及测试方法。
技术介绍
1、电容笔是一种特殊的触控笔，具有导电特性，能够通过与电容式触摸屏产生精准的触控反应，为用户提供书写、绘画、操作等多种功能。电容笔广泛应用于数字绘画、手写输入、电子签名、学习笔记等领域，是一种与电容屏幕进行自然且精确互动的工具。电容笔利用导体材料模仿人体(通常是手指)完成与电容式屏幕的交互操作，故电容笔触控反馈的优良程度直接影响到电容笔在实际使用中的效果。
2、在电容笔触控测试领域，传统的测试方法主要依赖于人工纯手工操作，即测试人员使用手指直接触摸电容笔的触控区域，通过感知或借助简易仪器来测试触控容值，进而评估电容笔的触控性能。然而，这种传统的测试方法存在诸多缺点，已逐渐无法满足现代制造业对高效、准确和全面测试的需求。
3、首先，人工纯手工操作的作业效率极低。测试人员需要逐一测试电容笔的每一个触控单元，不仅耗时耗力，而且容易因疲劳或疏忽导致测试结果的误差。特别是在大规模生产的场景下，这种测试方法无法适应高效、快速的生产节奏，成为制约电容笔生产效率的关键因素。其次，人工测试难以完全覆盖所有触控单元。电容笔通常具有多个触控单元，分布在不同的位置和区域。测试人员在测试过程中，可能会因为视角限制、操作不便等原因，遗漏部分触控单元，导致测试的不完整性和不确定性。这种测试的不完全性，无法真实反映电容笔的整体触控性能，给产品质量带来潜在风险。
技术实现思路
1、本专利技术的主要目的是提出
2、为实现上述目的，本专利技术的一些实施例提出一种测试设备及测试方法，包括：
3、来料组件，包括第一驱动件，第一驱动件用于驱动触控输入设备移动至测试位置；
4、压合组件，包括第二驱动件和压头，压头包括第一压块和第二压块，第二压块位于第一压块沿第一方向的一侧，第一压块包括第一抵接部，第二压块包括第二抵接部，沿第一方向，第一抵接部面对第二抵接部；第二驱动件用于驱动第一压块和第二压块沿第一方向相互靠近，以使第一抵接部和第二抵接部共同限定出容纳腔室，容纳腔室的内壁适于贴合并覆盖触控输入设备用于触控测试的壁面；
5、其中，压头被配置为能够导电，用于获取触控输入设备的信息。
6、在一些实施例中，第一抵接部和第二抵接部均具有弹性。
7、在一些实施例中，第一驱动件包括第一驱动气缸、第一滑轨、第一滑块和夹爪，夹爪适于连接触控输入设备，夹爪通过第一滑块滑动连接于第一滑轨，第一驱动气缸用于驱动第一滑块沿第一滑轨滑动，以适于驱动触控输入设备移动至测试位置。
8、在一些实施例中，夹爪包括第一磁性组件，第一磁性组件适于磁性吸附触控输入设备，以使夹爪适于保持和触控输入设备的连接状态。
9、在一些实施例中，夹爪包括第三抵接部，第三抵接部朝远离触控输入设备的方向凹陷。
10、在一些实施例中，第三抵接部包括第一安装孔，第一磁性组件安装于第一安装孔，第一磁性组件靠近触控输入设备的端部和第一安装孔靠近触控输入设备的端部间隔。
11、在一些实施例中，第一次磁性组件包括第一磁铁和第二磁铁，第一磁铁和第二磁铁的磁性相异，第一磁铁和第二磁铁共同配合以适于磁性吸附触控输入设备。
12、在一些实施例中，夹爪还包括第四抵接部，第四抵接部适于抵接触控输入设备处于测试位置时远离压合组件的端部。
13、在一些实施例中，第二驱动件包括第二驱动气缸、第二滑轨、第二滑块和第三滑块，第二滑块和第三滑块沿第一方向布置，第二滑块滑动连接第二滑轨，第一压块连接第二滑块，第三滑块滑动连接第二滑轨，第二压块连接第三滑块，第二驱动气缸驱动第二滑块和第三滑块相互靠近，使第一抵接部和第二抵接部抵接，以共同限定出容纳腔室；
14、其中，第二滑块包括第一安装槽，第一压块镶嵌于第一安装槽，第三滑块包括第二安装槽，第二压块镶嵌于第二安装槽。
15、本专利技术第二方面的实施例提出一种测试方法，用于上述任一实施例的测试设备，测试方法包括如下步骤：
16、通过来料组件夹持触控输入设备并移动至测试位置；
17、使用压合组件中的压块与触控输入设备被用于触控测试的周壁面贴合，进行触控测试；
18、在测试完成后，由来料组件将触控输入设备移出测试位置。
19、根据上述实施例，本专利技术的有益效果是：
20、本专利技术的测试设备包括来料组件和压合组件。来料组件用于把触控输入设备运送至测试位置，处于测试位置的触控输入设备用于进行触控测试。压合组件模拟人手对触控输入设备的测试单元，即压合组件对触控输入设备用于触控测试的周壁面施压，以获取触控输入设备的信息。具体的，压合组件包括第二驱动件和压头，压头包括第一抵接部和第二抵接部，第一抵接部和第二抵接部沿第一方向设置，第一抵接部具有仿形功能，第二抵接部具有仿形功能，且第一抵接部用于仿形的结构面对第二抵接部用于仿形的结构，处于测试位置的触控输入设备位于第一抵接部和第二抵接部之间。压头包括第一压块和第二压块，第一压块包括第一抵接部，第二压块包括第二抵接部，第二驱动件驱动第一压块和第二压块相互靠近，以使第一抵接部和第二抵接部抵接，第一抵接部和第二抵接部抵接从而共同限定出容纳腔室。
21、处于测试位置的触控输入设备位于容纳腔室，由于第一抵接部面对触控输入设备，第一抵接部对触控输入设备的轮廓进行仿形，第二抵接部面对触控输入设备，第二抵接部对触控输入设备的轮廓进行仿形，故第一抵接部和第二抵接部共同限定出的容纳腔室能够仿形触控输入设备的轮廓。触控输入设备用于触控测试的部分位于容纳腔室内时，容纳腔室的内壁能够全面包裹触控输入设备用于触控测试的部分，从而本方案的测试设备能够模拟人手，覆盖触控输入设备的全部触控测试单元，全面地完成对触控输入设备的触控测试，做到不遗漏触控输入设备的触控测试单元，故避免了测试结果的不完整性和不确定性，从而能够真实反映触控输入设备的整体触控性能。此外，本方案的测试设备自动化程度高，对触控输入设备的测试效率更高。
22、本专利技术的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本专利技术的实践了解到。
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1.一种测试设备，用于测试触控输入设备，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，所述第一抵接部和所述第二抵接部均具有弹性。
3.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，所述第一驱动件包括第一驱动气缸、第一滑轨、第一滑块和夹爪，所述夹爪适于连接所述触控输入设备，所述夹爪通过所述第一滑块滑动连接于所述第一滑轨，所述第一驱动气缸用于驱动所述第一滑块沿所述第一滑轨滑动，以适于驱动所述触控输入设备移动至所述测试位置。
4.根据权利要求3所述的测试设备，其特征在于，所述夹爪包括第一磁性组件，所述第一磁性组件适于磁性吸附所述触控输入设备，以使所述夹爪适于保持和所述触控输入设备的连接状态。
5.根据权利要求4所述的测试设备，其特征在于，所述夹爪包括第三抵接部，所述第三抵接部朝远离所述触控输入设备的方向凹陷。
6.根据权利要求5所述的测试设备，其特征在于，所述第三抵接部包括第一安装孔，所述第一磁性组件安装于所述第一安装孔，所述第一磁性组件靠近所述触控输入设备的端部和所述第一安装孔靠近所述触控输入设备的端部间隔。
7.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，所述第一次磁性组件包括第一磁铁和第二磁铁，所述第一磁铁和所述第二磁铁的磁性相异，所述第一磁铁和所述第二磁铁共同配合以适于磁性吸附所述触控输入设备。
8.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，所述夹爪还包括第四抵接部，所述第四抵接部适于抵接所述触控输入设备处于所述测试位置时远离所述压合组件的端部。
9.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，所述第二驱动件包括第二驱动气缸、第二滑轨、第二滑块和第三滑块，所述第二滑块和所述第三滑块沿所述第一方向布置，所述第二滑块滑动连接所述第二滑轨，所述第一压块连接所述第二滑块，所述第三滑块滑动连接所述第二滑轨，所述第二压块连接所述第三滑块，所述第二驱动气缸驱动所述第二滑块和所述第三滑块相互靠近，使所述第一抵接部和所述第二抵接部抵接，以共同限定出所述容纳腔室；
10.一种测试方法，用于权利要求1至9任一项所述的测试设备，其特征在于，包括：
...【技术特征摘要】
1.一种测试设备，用于测试触控输入设备，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，所述第一抵接部和所述第二抵接部均具有弹性。
3.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，所述第一驱动件包括第一驱动气缸、第一滑轨、第一滑块和夹爪，所述夹爪适于连接所述触控输入设备，所述夹爪通过所述第一滑块滑动连接于所述第一滑轨，所述第一驱动气缸用于驱动所述第一滑块沿所述第一滑轨滑动，以适于驱动所述触控输入设备移动至所述测试位置。
4.根据权利要求3所述的测试设备，其特征在于，所述夹爪包括第一磁性组件，所述第一磁性组件适于磁性吸附所述触控输入设备，以使所述夹爪适于保持和所述触控输入设备的连接状态。
5.根据权利要求4所述的测试设备，其特征在于，所述夹爪包括第三抵接部，所述第三抵接部朝远离所述触控输入设备的方向凹陷。
6.根据权利要求5所述的测试设备，其特征在于，所述第三抵接部包括第一安装孔，所述第一磁性组件安装于所述第一安装孔，所述第一磁性组件靠近所述触控输入设...
【专利技术属性】
技术研发人员：温孝德，刘平，郭承志，刘剑，
申请(专利权)人：深圳市欣威智能有限公司，
类型：发明
国别省市：
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