噪声去除装置、物体检测装置及噪声去除方法制造方法及图纸

噪声去除装置(30)是从与照射的光对应地到达的到达光中去除噪声的装置，利用测量部(31)，对于朝向规定范围射出的光，沿着从射出光起的经过时间，测量来自与该光的射出方向对应的检测方向的光即到达光的强度，提取从射出光至检测到到达光为止的时间即检测时间以及与到达光对应的光的射出方向。在测量了强度的到达光中存在规定以上强度的回波的情况下，判断部(32)使用回波的强度和与经过时间对应的探测距离，判断回波是否是由存在于规定范围的检测对象反射的回波，利用去除部(33)将判断为不是由检测对象反射的回波的回波作为噪声而去除。这样，能够从与照射的光对应地到达的到达光中高精度地去除噪声。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

本公开涉及将在使用光的反射识别检测对象时产生的噪声去除的技术。

技术介绍

1、已知有一种向规定范围照射红外光等光，检测来自存在于该范围的检测对象的反射光，从而识别检测对象，或者测量到检测对象为止的距离的技术。在这样的光学测量中，研究将因干扰光等的影响而产生的噪声去除，例如在日本特开2000-009841号公报中，通过多次接收反射波并使它们重叠来去除噪声成分。另外，在日本专利第6763992号公报中，提出将与周边像素相比距离相差较大的孤点作为噪声而去除。

技术实现思路

1、然而，在这样的噪声去除技术中留有各种课题。其一，在以光学方式进行室外的检测对象的识别或距离的测量的情况下，会受到降雨及干扰光的影响，有时来自雨滴等的反射波的强度也较高，例如存在即使重叠多次测量结果也不能去除的情况。这样的问题在由接近测量点的位置处的雨滴或干扰光引起的杂波等中较为显著。另外，就难以将照射的光反射的物体、例如涂装成黑色的车身等而言，有时反射光的强度小，单纯提高用于消除噪声成分的阈值难以进行检测对象的识别及距离的测量。

本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种噪声去除装置(30)，该噪声去除装置将在使用光的反射对检测对象进行识别时产生的噪声去除，其特征在于，具备：

2.根据权利要求1所述的噪声去除装置，其特征在于，

3.根据权利要求1所述的噪声去除装置，其特征在于，

4.根据权利要求1～3中任一项所述的噪声去除装置，其特征在于，

5.根据权利要求4所述的噪声去除装置，其特征在于，

6.根据权利要求4所述的噪声去除装置，其特征在于，

7.根据权利要求4所述的噪声去除装置，其特征在于，

8.根据权利要求4所述的噪声去除装置，其特征在于，

9.根...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

1.一种噪声去除装置(30)，该噪声去除装置将在使用光的反射对检测对象进行识别时产生的噪声去除，其特征在于，具备：

2.根据权利要求1所述的噪声去除装置，其特征在于，

3.根据权利要求1所述的噪声去除装置，其特征在于，

4.根据权利要求1～3中任一项所述的噪声去除装置，其特征在于，

5.根据权利要求4所述的噪声去除装置，其特征在于，

6.根据权利要求4所述的噪声去除装置，其特征在于，

7.根据权利要求4所述的噪声去除装置，其特征在于，

8.根据权利要求4所述的噪声去除装置，其特征在于，

9.根据权利要求1～3中任一项所述的噪声去除装置，其特征在于，

10.根据权利要求9所述的噪声去除装置，其特征在于，

11.根据权利要求1～3...

【专利技术属性】
技术研发人员：秋山启子，
申请(专利权)人：株式会社电装，
类型：发明
国别省市：