【技术实现步骤摘要】
本技术涉及白光干涉仪及其辅助夹具领域，尤其涉及的是白光干涉仪及其圆柱试样可调节夹具。
技术介绍
1、白光干涉仪是一种基于干涉原理的高精度测量仪器，其测量原理是利用相干光波在物体表面的反射或透射产生的干涉条纹，并通过测量这些条纹的变化来推算出物体表面的形貌、厚度、折射率等信息；白光干涉仪具有非接触测量、高精度、高灵敏度等优点，由此被广泛应用于光学、机械、电子、材料等领域，且其高精度测量能力在科研和生产领域都发挥着重要作用。
2、现有技术中的白光干涉仪在表征圆柱试样表面时，通常都是直接将圆柱试样平放在试样台之上，或者是使用平口钳夹具夹持圆柱试样。
3、但是，直接平放的方式无法快速准确定位圆柱试样所需的表征位置，同时在调节试样台时也容易使圆柱试样发生晃动，无法保证圆柱试样的表征位置始终位于最顶端，导致表征测量基准容易发生偏差；而使用平口钳夹具夹持的方式则容易导致圆柱试样的表面受到挤压并损伤，且位置调整也较为困难，无法保证圆柱试样的轴线与白光干涉仪试样台的平面构成平行的状态，需要反复拆装进行调节，更加重了对圆柱试样的表面
【技术保护点】
1.一种圆柱试样可调节夹具，用于放在白光干涉仪的试样台上，其特征在于：该圆柱试样可调节夹具包括底座、第一支撑块和第二支撑块，第一支撑块和/或第二支撑块可调整其位置地固定在底座之上，且第一支撑块和第二支撑块的内侧面分别设置有第一斜面和第二斜面，第一斜面和第二斜面的斜面均倾斜向上并相互对称，用于支撑和定位水平放置的圆柱试样。
2.根据权利要求1所述的圆柱试样可调节夹具，其特征在于：所述底座的顶面水平设置有一条倒梯形槽，倒梯形槽的两侧面均倾斜向上；所述第一支撑块和第二支撑块的底面中间各自凸出设置有一适配卡在倒梯形槽内可水平滑动的第一倒梯形凸块和第二倒梯形凸块，第...
【技术特征摘要】
1.一种圆柱试样可调节夹具，用于放在白光干涉仪的试样台上，其特征在于：该圆柱试样可调节夹具包括底座、第一支撑块和第二支撑块，第一支撑块和/或第二支撑块可调整其位置地固定在底座之上，且第一支撑块和第二支撑块的内侧面分别设置有第一斜面和第二斜面，第一斜面和第二斜面的斜面均倾斜向上并相互对称，用于支撑和定位水平放置的圆柱试样。
2.根据权利要求1所述的圆柱试样可调节夹具，其特征在于：所述底座的顶面水平设置有一条倒梯形槽，倒梯形槽的两侧面均倾斜向上；所述第一支撑块和第二支撑块的底面中间各自凸出设置有一适配卡在倒梯形槽内可水平滑动的第一倒梯形凸块和第二倒梯形凸块，第一支撑块和/或第二支撑块的滑动方向与圆柱试样的轴心线相互垂直。
3.根据权利要求2所述的圆柱试样可调节夹具，其特征在于：所述倒梯形槽的两侧面之间的夹角大于或等于第一斜面与第二斜面之间的夹角。
4.根据权利要求2所述的圆柱试样可调节夹具，其特征在于：所述底座的顶面垂直设置有两条倒t字形通槽，两条倒t字形通槽分别位于倒梯形槽的两侧；所述第...
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