【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及计算机
,尤其涉及一种图像细线检测的方法及装置。
技术介绍
现有技术中图像细线检测方法是采用图像内的局部边界信息,识别图像中的细线,即通过多个样本图像形成模板,保存上述模板,并将上述模板和与其相似的测试模板进行匹配进行细线检测。 采用上述模板匹配检测图像细线的方法,一般只用于检测灰度图像,采用模板匹配的方法成本较高,并且计算量大,不利于硬件电路的成本控制。 现有边界检测算子检测图像细线的方法,一部分边界检测算子对于细线的检测强度较低,另一部分边界检测算子虽然对细线有较高的检测强度,但同时对图像噪声的响应强度也偏高,从而不能有效地进行图像内细线的检测。
技术实现思路
本专利技术实施例提供一种图像细线检测的方法及装置,用以增强图像中细线检测的强度,减小检测的计算量,降低检测的成本。 本专利技术实施例提供的一种图像细线检测的方法,包括 在待检测区域上设置偶数尺寸边界方向检测窗口 ,根据所述边界方向检测窗口内像素点的像素值与边界检测模板,计算所述边界方向检测窗口内中心点的边界方向,其中,所述中心点为像素点顶角;并且, 在待检测区域上设置奇数尺寸边界强度 ...
【技术保护点】
一种图像细线检测的方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:在待检测区域上设置偶数尺寸边界方向检测窗口,根据所述边界方向检测窗口内像素点的像素值与边界检测模板,计算所述边界方向检测窗口内中心点的边界方向,其中,所述中心点为像素点顶角;并且,在待检测区域上设置奇数尺寸边界强度检测窗口,在所述边界强度检测窗口内计算每个非中心像素点相对于中心像素点的向量,根据每个向量计算每个掩蔽模板的合向量,根据每个合向量与该掩蔽模板的相似非中心像素点数量参数,计算边界强度检测窗口内中心像素点的细线边界强度;根据所述像素点的细线边界强度和顶角边界方向,检测所述待检测区域是否为细线区域。
【技术特征摘要】
一种图像细线检测的方法,其特征在于,该方法包括以下步骤在待检测区域上设置偶数尺寸边界方向检测窗口,根据所述边界方向检测窗口内像素点的像素值与边界检测模板,计算所述边界方向检测窗口内中心点的边界方向,其中,所述中心点为像素点顶角;并且,在待检测区域上设置奇数尺寸边界强度检测窗口,在所述边界强度检测窗口内计算每个非中心像素点相对于中心像素点的向量,根据每个向量计算每个掩蔽模板的合向量,根据每个合向量与该掩蔽模板的相似非中心像素点数量参数,计算边界强度检测窗口内中心像素点的细线边界强度;根据所述像素点的细线边界强度和顶角边界方向,检测所述待检测区域是否为细线区域。2. 如权利要求1所述的方法,其特征在于,计算所述边界方向检测窗口内中心点的边界方向,包括计算所述边界方向检测窗口内像素点的像素值与所述边界检测模板的巻积,得到所述边界方向检测窗口内中心点的水平方向和垂直方向的边界强度分量,根据该中心点的水平方向和垂直方向的边界强度分量计算所述边界方向检测窗口内中心点的边界方向。3. 如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述偶数尺寸边界方向检测窗口的设置包括取偶数M,设置MXM的像素窗口为边界方向检测窗口 。4. 如权利要求1所述的方法,其特征在于,在所述边界强度检测窗口内计算每个非中心像素点相对于中心像素点的向量,包括确定每个像素点的坐标值,根据所述每个像素点的坐标值和所述每个像素点的像素值,计算所述每个非中心像素点相对于中心像素点的向量,其中,每个向量的方向为所述中心像素点指向对应的非中心像素点的方向,所述每个向量的模为所述对应的非中心像素点的像素值。5. 如权利要求4所述的方法,其特征在于,所述根据每个向量计算每个掩蔽模板的合向量包括计算每个掩蔽模板中非零位置对应的边界强度检测窗口内的各个非中心像素点相对中心像素点的向量的和,得到每个掩蔽模板的合向量。6. 如权利要求5所述的方法,其特征在于,所述根据每个合向量与该掩蔽模板的相似非中心像素点数量参数,计算边界强度检测窗口内中心像素点的细线边界强度,包括根据掩蔽模板的非零位置对应的边界强度检测窗口内的非中心像素点的像素值与中心像素点的像素值的相似程度,确定每个掩蔽模板对应的相似非中心像素点数量参数;采用每个相似非中心像素点数量参数调整对应该掩蔽模板的合向量,选取调整后的所述合向量模的最大值为所述边界强度检测窗口内中心像素点的细线边界强度。7. 如权利要求1所述的方法,其特征在于,根据所述像素点的细线边界强度和顶角边界方向,检测所述待检测区域是否为细线区域,包括当所述像素点的四个顶角边界方向为两两相对或两两相背,且所述像素点的细线边界强度大于设定的边界强度的阈值,则所述像素点为细线区域内的像素点。8. 如权利要求7所述的方法,其特征在于,所述方法进一步包括当待检测区域内每个像素点的四个顶角边界方向为两两相对或两两...
【专利技术属性】
技术研发人员:袁梦尤,王宗宇,六尾敏明,李平立,
申请(专利权)人:北京大学,方正国际软件北京有限公司,京瓷美达株式会社,
类型:发明
国别省市:11[中国|北京]
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