【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于光谱学，尤其涉及一种溶液吸光率谱测量装置及方法。
技术介绍
1、溶液吸光率的测量已经发展出多种成熟方法。主流的测量溶液光谱透过率的方法包括分光光度计法、光纤光谱仪测量法。无论哪一种测量方法，为了获得最佳的准确率都需要引入参考样品，对测量结果进行透过率标定；或者测量不同浓度或光程的样品，基于比尔朗伯定律求解溶液的吸收度。
2、使用分光光度计或光谱仪测量样品吸光率谱时，参考样品一般是空样品池或相同溶剂的样品池，两者都会引入一定误差。若被测液体是纯液体，则无法通过相同溶剂样品池的本身进行标定，因此需要使用空样品池标定，其内部会受到空气与池壁界面的反射和散射影响，从而降低准确率。因此，国标gb/t 7962.9-2010采用的是利用折射率计算反射率并刨除的做法。异曲同工地，名称为“液体光谱透过率的测量方法”的中国专利技术专利（公开号为cn104880426a，公开日为2015年9月2日）使用折射仪测量液体及池壁的折射率，计算出界面反射率，从而对透过率误差进行修正。
3、由于反射率受到镀膜，表面微形貌特性等的...
【技术保护点】
1.一种溶液吸光率谱测量装置，其特征在于：包括连续谱白光光源、比色皿支架、可变光程组装比色皿、光纤光谱仪和上位机，其中，
2.根据权利要求1所述的溶液吸光率谱测量装置，其特征在于：所述可变光程组装比色皿包括两片熔融石英片与硅胶组件，两片熔融石英片设置在所述硅胶组件的两侧，避免所述硅胶组件内置放的待测溶液流出。
3.根据权利要求2所述的溶液吸光率谱测量装置，其特征在于：所述硅胶组件包括不少于一个的硅胶块，所述硅胶块的中心设有液槽，所述液槽用于置放所述待测溶液。
4.根据权利要求3所述的溶液吸光率谱测量装置，其特征在于：所述硅胶块的硬度...
【技术特征摘要】
1.一种溶液吸光率谱测量装置，其特征在于：包括连续谱白光光源、比色皿支架、可变光程组装比色皿、光纤光谱仪和上位机，其中，
2.根据权利要求1所述的溶液吸光率谱测量装置，其特征在于：所述可变光程组装比色皿包括两片熔融石英片与硅胶组件，两片熔融石英片设置在所述硅胶组件的两侧，避免所述硅胶组件内置放的待测溶液流出。
3.根据权利要求2所述的溶液吸光率谱测量装置，其特征在于：所述硅胶组件包括不少于一个的硅胶块，所述硅胶块的中心设有液槽，所述液槽用于置放所述待测溶液。
4.根据权利要求3所述的溶液吸光率谱测量装置，其特征在于：所述硅胶块的硬度大于70ha，所述硅胶块的厚度为1mm，所述熔融石英片在400nm-1100nm的波长范围内的透过率高于90%。
5.根据权利要求1所述的溶液吸光率谱测量装置，其特征在于：所述上位机包括计算机。
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【专利技术属性】
技术研发人员：张云峰，邵俊峰，王佳敏，郑长彬，王春锐，陈飞，
申请(专利权)人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所，
类型：发明
国别省市：
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