【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及电子设备测试，具体涉及一种多路上下电测试系统及方法。
技术介绍
1、随着社会发展，我们进入了信息时代，人们生活中接触到的以及隐藏在各行各业中的电子设备，其数量及种类都迎来了爆炸式的增长。电子设备更新换代速度越快，则研发与制造企业间的开发及测试压力就越大。对于研发与制造企业来说，能够快速调试出性能出色、运行稳定、可靠性高的产品，能够解决研发中的可靠性测试问题，意味着能更快地将产品推向市场，赢得口碑，以在激烈的行业竞争中占领先机。
2、而电子设备的故障，往往出现在上下电过程中，而异常掉电又是上下电中最为严酷的场景。异常掉电的测试结果，最能反映出一款电子产品的可靠性水平。而目前业界还没有统一的通用异常掉电测试工具。
3、当前有以下异常掉电测试的常规方法：
4、1，测试人员手动开关电源，并观察上下电过程中设备是否出现工作异常，并记录测试次数。此方法可由测试人员实时观察并记录是否出现异常，若出现异常可保持故障当下的状态，以便研发人员进行针对性分析调试；但此方法效率低下，且对测试人员时间及精力消耗极...
【技术保护点】
1.一种多路上下电测试系统，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的一种多路上下电测试系统，其特征在于，所述微处理器（130）在接收到所述下电指令的情况下，将所述开关装置（120）断开，使所述被测试设备（200）下电，经第一预设时长后，将所述开关装置（120）导通，使所述被测试设备（200）上电。
3.根据权利要求2所述的一种多路上下电测试系统，其特征在于，所述上下电测试系统还包括：时间设置模块（140）和显示模块（150）；
4.根据权利要求1所述的一种多路上下电测试系统，其特征在于，所述信号接收模块（110）与所述微处理器（...
【技术特征摘要】
1.一种多路上下电测试系统，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的一种多路上下电测试系统，其特征在于，所述微处理器（130）在接收到所述下电指令的情况下，将所述开关装置（120）断开，使所述被测试设备（200）下电，经第一预设时长后，将所述开关装置（120）导通，使所述被测试设备（200）上电。
3.根据权利要求2所述的一种多路上下电测试系统，其特征在于，所述上下电测试系统还包括：时间设置模块（140）和显示模块（150）；
4.根据权利要求1所述的一种多路上下电测试系统，其特征在于，所述信号接收模块（110）与所述微处理器（130）之间通过延时及手动触发线路（160）连接；
5.根据权利要求4所述的一种多路上下电测试系统，其特征在于，所述信号接...
【专利技术属性】
技术研发人员：张宇，魏波，
申请(专利权)人：成都万创科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。