计量支持的断层摄影系统和使用方法技术方案

本发明专利技术涉及计量支持的断层摄影系统和使用方法。计量支持的断层摄影系统包括：成像系统，所述成像系统包括辐射源和辐射检测器；独立跟踪系统，所述独立跟踪系统包括连接到所述辐射源的第一跟踪目标和连接到所述辐射检测器的第二跟踪目标；以及断层摄影计算程序，所述断层摄影计算程序被配置为利用来自所述成像系统的数据结合由所述独立跟踪系统确定的所述第一跟踪目标和所述第二跟踪目标的位置来创建三维重建。

【技术实现步骤摘要】

本公开总体上涉及检查，并且更具体地，涉及大型工件的计算机断层扫描。

技术介绍

1、计算机断层扫描用于提供无损检查。在执行计算机断层扫描时，来自工件的多个视图的成像数据被组合以创建三维视图。为了从多个视图生成成像数据，移动成像系统和工件中的一者。

2、一种形式的常规ct扫描系统包括围绕受限制体积旋转的成像系统。由于受限制体积的边界，工件尺寸受到限制。不能检查对于受限制体积来说太大的工件。

3、因此，考虑到以上所讨论问题中的至少一些问题以及其他可能问题的方法和设备将是令人期待的。

技术实现思路

1、本公开的实施方式提供了一种计量支持的断层摄影系统。所述计量支持的断层摄影系统包括：辐射源，所述辐射源连接到第一移动系统；第一跟踪目标，所述第一跟踪目标连接到所述辐射源；辐射检测器，所述辐射检测器连接到第二移动系统；第二跟踪目标，所述第二跟踪目标连接到所述辐射检测器；以及独立跟踪系统，所述独立跟踪系统被配置为跟踪所述第一跟踪目标和所述第二跟踪目标的位置。

2、本公开的另一个实施方式提供本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种计量支持的断层摄影系统(202)，所述计量支持的断层摄影系统包括：

2.根据权利要求1所述的计量支持的断层摄影系统(202)，所述计量支持的断层摄影系统还包括：

3.根据权利要求1所述的计量支持的断层摄影系统(202)，其中，所述辐射源(210)是X射线源(226)，并且/或者

4.根据权利要求1所述的计量支持的断层摄影系统(202)，其中，所述独立跟踪系统(206)是激光跟踪系统(248)。

5.根据权利要求1所述的计量支持的断层摄影系统(202)，其中，所述独立跟踪系统(206)是光学跟踪系统(246)。p>

6.根据权...

【技术特征摘要】

1.一种计量支持的断层摄影系统(202)，所述计量支持的断层摄影系统包括：

2.根据权利要求1所述的计量支持的断层摄影系统(202)，所述计量支持的断层摄影系统还包括：

3.根据权利要求1所述的计量支持的断层摄影系统(202)，其中，所述辐射源(210)是x射线源(226)，并且/或者

4.根据权利要求1所述的计量支持的断层摄影系统(202)，其中，所述独立跟踪系统(206)是激光跟踪系统(248)。

5.根据权利要求1所述的计量支持的断层摄影系统(202)，其中，所述独立跟踪系统(206)是光学跟踪系统(246)。

6.根据权利要求1所述的计量支...

【专利技术属性】
技术研发人员：R·A·弗里茨克，C·R·布朗，H·H·塔特，C·I·弗瑞吉，B·J·史密斯，C·J·富兰克林，T·M·H·浩，S·E·亚瑟，
申请(专利权)人：波音公司，
类型：发明
国别省市：