【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及数据分析，特别涉及一种亮度分析方法、显示设备及电子设备。
技术介绍
1、目前在进行显示屏开发的过程中，通过采集的显示屏的发光强度数据来分析显示屏发光点强度的均一性。
2、针对采集的发光强度数据，在处理的过程中，由于工具缺乏、数据处理时间长、使得研发人员在数据处理上需要花费较多的时间，且通过人工手动筛选出的发光强度数据的数据量较小，难以全面的描述发光点强度均一的性质，较为严重的影响研发进度。
技术实现思路
1、本专利技术提供一种亮度分析方法、显示设备及电子设备，用于采用寻找峰值的方式查找出发光区域最大发光强度值，通过聚类方式进行归并，从而按照分行、分列的方式进行强度均一性的分析，提高发光强度数据的处理速度。
2、第一方面，本专利技术实施例提供的一种显示屏的亮度分析方法，包括：
3、采集显示屏的发光强度，得到强度矩阵，其中所述强度矩阵中的各个数值表示所述显示屏中不同位置的发光强度值；
4、从所述强度矩阵中筛选出峰值，其中所述峰值是所...
【技术保护点】
1.一种亮度分析方法，其特征在于，该方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述从所述强度矩阵中筛选出峰值，包括：
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述从所述强度矩阵中筛选出峰值，包括：
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，从所述强度矩阵每行的数值中，筛选出大于或等于与自身左右相邻数值的数值，作为行峰值，包括：
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述确定所述行峰值，包括：
6.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述从所述强度矩阵每列的数值中，筛选出大于或等于与自身上下...
【技术特征摘要】
1.一种亮度分析方法，其特征在于，该方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述从所述强度矩阵中筛选出峰值，包括：
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述从所述强度矩阵中筛选出峰值，包括：
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，从所述强度矩阵每行的数值中，筛选出大于或等于与自身左右相邻数值的数值，作为行峰值，包括：
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述确定所述行峰值，包括：
6.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述从所述强度矩阵每列的数值中，筛选出大于或等于与自身上下相邻数值的数值，作为列峰值，包括：
7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述确定所述列峰值，包括：
8.根据权利要求1～7任一所述的方法，其特征在于，所述从所述强度矩阵中筛选出峰值之后，分别对所述强度矩阵中行方向和列方向上的峰值进行聚类之前，还包括：
9.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述分别对所述强度矩阵中行方向和列方向上的峰值进行聚类，得到对应的多个行峰值集合和...
【专利技术属性】
技术研发人员：张迁，王志冲，刘鹏，冯京，苌川川，郭旭，刘星瑶，张鑫，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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