一种图像配准方法、装置、计算机设备及存储介质制造方法及图纸

技术编号:43288311 阅读:20 留言:0更新日期:2024-11-12 16:09
本发明专利技术公开了一种图像配准方法、装置、计算机设备及存储介质,属于机器视觉缺陷检测技术领域。针对现有技术中存在的在半导体表面图像配准时难以找到有效特征点匹配从而导致配准效率低的问题,本发明专利技术通过设定标准图像,获取标准图像参数;输入原始图像,获取原始图像参数;利用标准图像参数和原始图像参数求解原始图像的旋转矩阵和平移矩阵;建立图像刚体变换关系,通过旋转矩阵和平移矩阵对原始图像进行仿射变换,配准原始图像和标准图像,由此,在进行图像配准时,无需进行特征点匹配,而是通过求解图像的旋转矩阵和平移矩阵,约束图像缩放尺度,实现图像的刚体变换,有效提高图像配准效率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及机器视觉缺陷检测,更具体地说,涉及一种图像配准方法、装置、计算机设备及存储介质


技术介绍

1、图像配准是将不同时间、不同传感器(成像设备)或不同条件下获取的两幅或多幅图像进行匹配、叠加的过程,被广泛应用于计算机视觉领域、图像处理领域。图像配准主要包括三部分:特征提取、特征匹配和参数估计。

2、在数字图像处理中,图像配准是通过对不同时间段或不同视角下获取的图像进行比对和对齐,实现图像的精确对准。图像配准在缺陷检测和变化分析中具有重要意义,其能够帮助检测目标物体的形变、裂纹和瑕疵。通过比对配准后的图像与参考图像,可以准确地分析目标物体的变化和缺陷,为后续的处理和决策提供重要的依据。

3、现有技术中,半导体图像经常呈现表面简单模式、无序纹理或者某一模式重复出现的情况,经典的特征点描述子,例如sift,orb等很难在半导体表面找到有效的特征点或者进行特征点配准。相比之下,对于一些半导体上的特定结构,例如pin,bumping等如圆形或长方形结构,可以简单找到其中心坐标。

4、经检索,中国专利申请,申请号20201本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种图像配准方法,包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的一种图像配准方法,其特征在于,所述标准图像参数包括标准图像右奇异向量;所述标准图像右奇异向量的获取步骤包括:采集标准图像特征点矩阵;对标准图像特征点矩阵去中心化处理得到标准图像去中心化特征点矩阵;对标准图像去中心化特征点矩阵进行奇异值分解得到标准图像右奇异矩阵;通过标准图像右奇异矩阵获取标准图像右奇异向量;

3.根据权利要求2所述的一种图像配准方法,其特征在于,所述利用标准图像参数和原始图像参数求解原始图像的旋转矩阵,其步骤包括:

4.根据权利要求3所述的一种图像配准方法,其特征在于,所述旋...

【技术特征摘要】

1.一种图像配准方法,包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的一种图像配准方法,其特征在于,所述标准图像参数包括标准图像右奇异向量;所述标准图像右奇异向量的获取步骤包括:采集标准图像特征点矩阵;对标准图像特征点矩阵去中心化处理得到标准图像去中心化特征点矩阵;对标准图像去中心化特征点矩阵进行奇异值分解得到标准图像右奇异矩阵;通过标准图像右奇异矩阵获取标准图像右奇异向量;

3.根据权利要求2所述的一种图像配准方法,其特征在于,所述利用标准图像参数和原始图像参数求解原始图像的旋转矩阵,其步骤包括:

4.根据权利要求3所述的一种图像配准方法,其特征在于,所述旋转矩阵表示为:

5.根据权利要求4所述的一种图像配准方法,其特征在于,通...

【专利技术属性】
技术研发人员:郑飞郎斯喆林贵成
申请(专利权)人:合肥图迅电子科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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