用于光学测量对象的测量单元和方法技术

本发明专利技术涉及一种用于光学测量对象（2）的测量设备（1），该测量设备具有相机（3）和具有激光源（5）的激光投射单元（4），其中，激光投射单元（4）被设计成将激光（L）投射到待测量的对象（2）上，并且相机（3）被设计成用所投射的激光（L）记录对象（2）的图像，其中，测量装置（1）被设计成在相机（3）的每个曝光时间期间向该至少一个激光源（5）供应变化的驱动功率、特别是变化的注入电流和/或驱动电压，以便增大所投射的激光波长的带宽。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

技术介绍

技术实现思路

【技术保护点】

1.一种用于光学测量对象（2）的测量装置（1），该测量装置包括相机（3）和具有激光源（5）的激光投射单元（4），其中，该激光投射单元（4）被配置成将激光（L）投射到待测量的对象（2）上，并且该相机（3）被配置成用所投射的激光（L）记录该对象（2）的图像，

2.如权利要求1所述的测量装置（1），其特征在于，该激光源（5）是半导体激光器。

3.如权利要求1或2所述的测量装置（1），其特征在于，该激光投射单元（4）被设计成向该激光源（5）供应脉冲调制注入电流，三角形、锯齿形或正弦形注入电流曲线，或者供应时间整形的注入电流脉冲和/或电压脉冲，这些脉冲在各自情况下在一个电流...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

1.一种用于光学测量对象（2）的测量装置（1），该测量装置包括相机（3）和具有激光源（5）的激光投射单元（4），其中，该激光投射单元（4）被配置成将激光（l）投射到待测量的对象（2）上，并且该相机（3）被配置成用所投射的激光（l）记录该对象（2）的图像，

2.如权利要求1所述的测量装置（1），其特征在于，该激光源（5）是半导体激光器。

3.如权利要求1或2所述的测量装置（1），其特征在于，该激光投射单元（4）被设计成向该激光源（5）供应脉冲调制注入电流，三角形、锯齿形或正弦形注入电流曲线，或者供应时间整形的注入电流脉冲和/或电压脉冲，这些脉冲在各自情况下在一个电流脉冲中具有变化的电流，或者在一个电压脉冲中具有变化的电压。

4.如权利要求1至3中任一项所述的测量装置（1），其特征在于，该激光投射单元（4）被设计成向该激光源（5）供应调制电流脉冲和/或电压脉冲，这些调制电流脉冲和/或电压脉冲的脉冲序列范围为从10纳秒至10微秒，并且占空比范围为从5至500。

5.如权利要求1至4中任一项所述的测量装置（1），其特征在于，该激光投射单元（4）被设计成投射波长范围从440纳米至470纳米的蓝色激光。

6.如权利要求1至5中任一项所述的测量装置（1），其特征在于，该激光投射单元（4）包括衍射光学元件（doe）、鲍威尔透镜和/或波长相关光栅，由该激光源（5）产生的激光被引导穿过该衍射光学元件、该鲍威尔透镜和/或该波长相关光栅。

7.如权利要求1至6中任一项所述的测量装置（1），其特征在于，该激光投射单元（4）是激光线生成器、多线生成器或随机点阵生成器。

8.如前述权利要求中任一项所述的测量装置，其特征在于，该激光源（5）连接到光纤（8）。

9.如权利要求8所述的测量装置，其特征在于，该光纤（8）以环形方式卷绕。

10.如权利要求8或9所述的测量装置，其特征在于，该光纤（8）的出口被引导到用于准直该激光（l）的光学透镜（9）上，并且离开该光学透镜（9）的经准直的激光（l）被引导到用于产生激光线（6）的...

【专利技术属性】
技术研发人员：M·乔尔克，T·泽姆施，T·博特，T·温特尔，
申请(专利权)人：卡尔蔡司高慕计量有限公司，
类型：发明
国别省市：