【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及材料非等温蠕变测试，特别是涉及一种利用动态力学分析仪表征薄膜样品非等温蠕变的方法。
技术介绍
1、非等温蠕变测试是通过对样品在变温过程中施加应力来表征应变随温度的变化关系曲线的方法，其通常用于表征材料的变形能力与温度的关系。
2、材料的变形行为与其微观结构息息相关，即与材料内部的原子平移运动有关。温度决定了原子的热振动和材料内部结构缺陷的活动性，影响材料的变形行为。就薄膜样品而言，其非等温蠕变的空间尺度较小，往往在微米和纳米量级。薄膜样品的广泛研究和应用，对力学设备的位移分辨率和力分辨率提出了更高要求。动态力学分析仪具有很高的位移分辨率(100nm)和力分辨率(1mn)，是为数不多能够精确探测薄膜样品的非等温蠕变过程的热学、力学分析仪。然而，由于动态力学分析仪所附带的夹具的伸长率随温度变化，导致样品的非等温蠕变数据失真。因此，动态力学分析仪还未广泛用于表征材料的非等温蠕变。
3、基于上述情况，本专利技术通过校准动态力学分析仪所附带的夹具的伸长率，提出了一种利用动态力学分析仪表征薄膜样品非等温蠕变的方
【技术保护点】
1.一种利用动态力学分析仪表征薄膜样品非等温蠕变的方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的利用动态力学分析仪表征薄膜样品非等温蠕变的方法，其特征在于，获得所述标准样品和所述待测样品包括：
3.根据权利要求1所述的利用动态力学分析仪表征薄膜样品非等温蠕变的方法，其特征在于，获取所述标准样品和所述待测样品后包括：
4.根据权利要求1所述的利用动态力学分析仪表征薄膜样品非等温蠕变的方法，其特征在于，获取所述标准样品随温度变化的测试伸长率包括：
5.根据权利要求1所述的利用动态力学分析仪表征薄膜样品非等温蠕变的方法，其...
【技术特征摘要】
1.一种利用动态力学分析仪表征薄膜样品非等温蠕变的方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的利用动态力学分析仪表征薄膜样品非等温蠕变的方法，其特征在于，获得所述标准样品和所述待测样品包括：
3.根据权利要求1所述的利用动态力学分析仪表征薄膜样品非等温蠕变的方法，其特征在于，获取所述标准样品和所述待测样品后包括：
4.根据权利要求1所述的利用动态力学分析仪表征薄膜样品非等温蠕变的方法，其特征在于，获取所述标准样品随温度变化的测试伸长率包括：
5.根据权利要求1所述的利用动态力学分析仪表征薄膜样品非等温蠕变的方法，其特征在于，获取所述动态力学分析仪中夹具随温度变化的伸长率包括：
6.根据权利要求1所述的利用动态力学...
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