试样测定装置和试样测定方法制造方法及图纸

技术编号:43210904 阅读:35 留言:0更新日期:2024-11-01 20:30
照射部遍及测定部取得一个拉曼光谱的期间,在试样(30)上的测定范围(31)沿着未多次通过同一位置的线(32)扫描激发光照射位置。在设为多个扫描线(32<subgt;1</subgt;~32<subgt;N</subgt;)的情况下,使各扫描线(32<subgt;n</subgt;)不多次通过试样(30)上的同一位置。在多个扫描线(32<subgt;1</subgt;~32<subgt;N</subgt;)之间也未多次通过同一位置。此外,在多个激发光照射区域(33<subgt;1</subgt;~33<subgt;N</subgt;)之间相互不重叠。由此,实现了能够在试样上的测定范围容易地进行利用拉曼分光法的定量分析的试样测定装置和试样测定方法。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

本专利技术涉及利用拉曼分光法对试样进行分析的试样测定装置和试样测定方法


技术介绍

1、当对试样照射光时,由于拉曼效应,在该试样产生具有与该照射光的波长不同的波长的拉曼散射光。拉曼散射光强度相对于该拉曼散射光的波数与照射光的波数的差的关系(拉曼光谱)对应于试样的分子结构、晶体结构、成分等。在拉曼分光法中,能够基于该拉曼光谱,进行试样的分析。

2、在利用拉曼分光法分析试样的试样测定装置的一个结构例中,作为激发光向试样照射从激光光源输出的单色的激光,并利用分光器测定根据该激发光照射而在试样产生的拉曼散射光的光谱。在激光光源与试样之间,为了使激发光聚光于试样上的限定的照射区域地进行照射而设置有聚光光学系统。

3、在试样与分光器之间,为了使试样上的激发光照射位置与分光器的狭缝(使拉曼散射光通过的狭缝)的位置相互成为光学共轭的位置关系而设置有成像光学系统。分光器的狭缝的宽度为几μm~几十μm。试样上的激发光照射区域的直径再大也为几十μm。由此,能够以高的空间分辨率进行试样的分析。

4、提高使用具有这样的结构的试样测定装置,能够进行本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种试样测定装置,其特征在于,

2.如权利要求1所述的试样测定装置,其特征在于,

3.如权利要求1或2所述的试样测定装置,其特征在于,

4.如权利要求1~3中的任一项所述的试样测定装置,其特征在于,

5.如权利要求4所述的试样测定装置,其特征在于,

6.如权利要求5所述的试样测定装置,其特征在于,

7.如权利要求1~6中的任一项所述的试样测定装置,其特征在于,

8.如权利要求1~7中的任一项所述的试样测定装置,其特征在于,

9.一种试样测定方法,其特征在于,

>10.如权利要求9...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

1.一种试样测定装置,其特征在于,

2.如权利要求1所述的试样测定装置,其特征在于,

3.如权利要求1或2所述的试样测定装置,其特征在于,

4.如权利要求1~3中的任一项所述的试样测定装置,其特征在于,

5.如权利要求4所述的试样测定装置,其特征在于,

6.如权利要求5所述的试样测定装置,其特征在于,

7.如权利要求1~6中的任一项所述的试样测定装置,其特征在于,

8.如权利要求1~7中的任一项所述的试样测定装置,其特征在于,

9.一...

【专利技术属性】
技术研发人员:藤原一彦丸山芳弘
申请(专利权)人:浜松光子学株式会社
类型:发明
国别省市:

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