一种测量等离子体三维磁场参数和波数的探针阵列装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种测量等离子体三维磁场参数和波数的探针阵列装置，括包括安装架，所述安装架为两根成十字交叉的空心管结构，所述安装架上设置有升降装置，所述安装架的交叉中心的上端设置有第一磁探针、下端设置有第二磁探针，两根所述空心管的延长端上分别设置有第三磁探针和第四磁探针；四个磁探针均为正方体形状的箱体结构，以及分别设置在第一磁探针、第二磁探针、第三磁探针和第四磁探针对应位置的条形开口。本发明专利技术设计了一种新的B‑dot磁探针阵列，不仅可以测量三维等离子体磁场参数以及三维等离子体波数，并且只使用了一个窗口，节省了位置。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及等离子体测量领域，具体涉及一种测量等离子体三维磁场参数和波数的探针阵列装置。

技术介绍

1、要想获得具有详细等离子体特性的、更好的等离子体性能，就必须从多方面采用各种测量方法。我们必须在实验中根据目标开始测量之前考虑需要哪些参数(例如磁场和等离子体波数)。

2、在射频(rf)实验(包括螺旋波放电实验)中，主要使用磁学测量方法。现有技术的探针主要为磁探针。磁探针主要测量等离子体中磁感应强度。由于实验过程中，直线装置的窗口是有限的，特定的窗口位置只能放置一种探针，而为了测量等离子体三维磁场参数以及波数，就需要六个窗口才能测量，这样会导致等离子体诊断的不充分、不完备。

技术实现思路

1、针对现有技术的上述不足，本专利技术提供了一种测量等离子体参数的磁探针阵列试验装置，不仅可以测量等离子体参数还可以测量磁场参数以及波数。

2、为达到上述专利技术目的，本专利技术所采用的技术方案为：

3、提供一种测量等离子体参数的磁探针阵列试验装置，其包括安装架，所述安装架为两根成十字交本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种测量等离子体三维磁场参数和波数的探针阵列装置，其特征在于，包括安装架，所述安装架为两根成十字交叉的空心管结构，所述安装架上设置有升降装置，所述安装架的交叉中心的上端设置有第一磁探针、下端设置有第二磁探针，两根所述空心管的延长端上分别设置有第三磁探针和第四磁探针；第一磁探针、第二磁探针、第三磁探针和第四磁探针均为正方体形状的箱体结构，且第一磁探针的上表面设置有第一条形开口、相邻的两个侧面上分别开设有第二条形开口和第三条形开口，所述第三磁探针的上表面也设置有第一条形开口，所述第三磁探针上与第一磁探针同侧的侧面上也设置有第二条形开口，所述第二磁探针上与第一磁探针同侧的侧面上也设置有第二...

【技术特征摘要】

1.一种测量等离子体三维磁场参数和波数的探针阵列装置，其特征在于，包括安装架，所述安装架为两根成十字交叉的空心管结构，所述安装架上设置有升降装置，所述安装架的交叉中心的上端设置有第一磁探针、下端设置有第二磁探针，两根所述空心管的延长端上分别设置有第三磁探针和第四磁探针；第一磁探针、第二磁探针、第三磁探针和第四磁探针均为正方体形状的箱体结构，且第一磁探针的上表面设置有第一条形开口、相邻的两个侧面上分别开设有第二条形开口和第三条形开口，所述第三磁探针的上表面也设置有第一条形开口，所述第三磁探针上与第一磁探针同侧的侧面上也设置有第二条形开口，所述第二磁探针上与第一磁探针同侧的侧面上也设置有第二条形开口，所述第四磁探针上与第一磁探针同侧的侧面上也设置有第三条形开口。

2.根据权利要求1所述的测量等离子体三维磁场参数和波数的探针阵列装置，其特征在于，所述第一磁探针、第二磁探针、第三磁探针和第四磁探针均包括外框架，所述外框架的侧面、上端面和下端面通过侧板封装，所述外框架与侧板组合成金属壳体，书搜狐第一条形开口、第二条形开口和第三条形开口分别开设在对应的侧板上，所述第一磁探针、第二磁探针、第三磁探针和第四磁探针的中心均设置...

【专利技术属性】
技术研发人员：张淮清，李智，卢凌峰，
申请(专利权)人：重庆大学，
类型：发明
国别省市：