一种亚像素激光条纹中心线提取方法技术

本发明专利技术公开一种亚像素激光条纹中心线提取方法，包括以下步骤，步骤S1，开启激光器投射线结构激光至待测物体表面上，使用工业相机拍摄完整激光光条图像；步骤S2，预处理步骤S1中所获取的完整光条图像，分割出图像中光条区域图像；步骤S3，对步骤S2中所获取的光条图像按列求解线宽；步骤S4，结合改进的Steger算法，先进行第一次反距离权重插值算法处理得到一半亚像素级中心点，再设定阈值对一半中心点在行方向第二次使用反距离权重插值方法，获得完整亚像素级中心点。本发明专利技术没有多余噪声，对光条灰度、高度变化剧烈的部分也能完整提取中心点，中心点分布均匀，密度更高，且更接近真实值，提取效果更好。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于光学测量，具体的说，本专利技术涉及一种亚像素激光条纹中心线提取方法。

技术介绍

1、在智能制造时代的背景下，获取工件的三维形貌信息的需求日渐迫切，线结构光三维扫描测量是基于视觉的光学三维测量技术的一个分支，在光学三维测量领域得到广泛应用，其主要特点是可以通过红外线或激光投射在目标物体表面进行扫描，将得到的数据导入计算机处理，生成三维形貌等信息，由于不接触待测物不会对目标造成损伤，另外，线结构光扫描测量精度高，足以满足各种工业制造、设计和医疗等领域对于高精度获取三维几何信息的需求。

2、基于激光三角法测量原理的线结构光扫描测量方法原理简单、测量精度较高，被广泛应用于线结构光三维扫描测量领域，提取拍摄激光光条中心线作为其关键步骤至关重要，直接影响测量系统精度。现有的中心线提取方法主要有灰度质心法和steger算法，前者原理简单，速度较快，但无法应对图像噪声、待测物表面形貌复杂等情况，而steger算法虽然可以求解线条方向，对线条方向随着待测物表面高低起伏发生变化时提取效果较好，但对线条宽度变化的情况提取效果不佳，同样无法应对较为复杂工本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种亚像素激光条纹中心线提取方法，其特征在于：包括以下步骤，

2.根据权利要求1所述的一种所述的亚像素激光条纹中心线提取方法，其特征在于，所述的步骤S1中，激光器方向竖直向下，确保无待测物时，工业相机成像中线结构激光水平且位于成像中央，获得方向水平固定，也即每一列灰度呈高斯分布的线结构激光图像；对于待测零件的摆放位置要确保其在工业相机的工作范围内。

3.根据权利要求1所述的一种所述的亚像素激光条纹中心线提取方法，其特征在于，所述的步骤S2中，对于完整线结构激光图像，可能由于拍摄环境和待测物表面形貌复杂，导致图像中存在噪声，且激光光条不连续，因此使用神经网络分割...

【技术特征摘要】

1.一种亚像素激光条纹中心线提取方法，其特征在于：包括以下步骤，

2.根据权利要求1所述的一种所述的亚像素激光条纹中心线提取方法，其特征在于，所述的步骤s1中，激光器方向竖直向下，确保无待测物时，工业相机成像中线结构激光水平且位于成像中央，获得方向水平固定，也即每一列灰度呈高斯分布的线结构激光图像；对于待测零件的摆放位置要确保其在工业相机的工作范围内。

3.根据权利要求1所述的一种所述的亚像素激光条纹中心...

【专利技术属性】
技术研发人员：高荣科，陈哲豪，于连栋，贾华坤，王向阳，陆洋，陈晨，陈孝喆，
申请(专利权)人：中国石油大学华东，
类型：发明
国别省市：