【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及激光参数测量装置及方法，具体涉及一种基于多重反射的光压测量装置及方法。
技术介绍
1、随着高能激光技术的迅猛发展，研制简便易用、准确稳定的激光功率测量设备的需求日益迫切。相比于传统的光电式、光热式激光功率测量方法，光压式激光功率测量方法在装置体积、响应时间以及在线监测上具有不可替代的优势，在高功率激光功率计量等实际应用场合都有极大的优越性。
2、光压式激光功率测量方法的核心是设计一种可实现微小压力测量的压力/重量传感器，进行高功率激光的光压测量。目前，高精度天平因可以实现毫克甚至微克量级重量的测量，同时不需要附加精密机械结构和力学设计即可作为光压传感器，因此被广泛应用于高功率激光的光压测量中，光压测量灵敏度与天平精度有关。但是天平精度越高，其测量结果的稳定性越容易受到环境影响。为此，研究人员在不改变天平精度的前提下，提出了基于多重反射的光压测量方法。
3、公开号为cn 114323273 a的中国专利“一种基于多重反射的光压测量装置及方法”公开了一种提高光压测量灵敏度的方法，该方法通过在光压传感反射...
【技术保护点】
1.一种基于多重反射的光压测量装置，其特征在于：
2.根据权利要求1所述一种基于多重反射的光压测量装置，其特征在于：
3.根据权利要求2所述一种基于多重反射的光压测量装置，其特征在于：
4.根据权利要求2或3所述一种基于多重反射的光压测量装置，其特征在于：
5.根据权利要求4所述一种基于多重反射的光压测量装置，其特征在于：
6.根据权利要求5所述一种基于多重反射的光压测量装置，其特征在于：
7.根据权利要求6所述一种基于多重反射的光压测量装置，其特征在于：
8.根据权利要求7所述一种基...
【技术特征摘要】
1.一种基于多重反射的光压测量装置，其特征在于：
2.根据权利要求1所述一种基于多重反射的光压测量装置，其特征在于：
3.根据权利要求2所述一种基于多重反射的光压测量装置，其特征在于：
4.根据权利要求2或3所述一种基于多重反射的光压测量装置，其特征在于：
5.根据权利要求4所述一种基于多重反射...
【专利技术属性】
技术研发人员：杨鹏翎，蒋小为，薛天旸，陶波，杨太旗，张一凡，
申请(专利权)人：西北核技术研究所，
类型：发明
国别省市：
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