工业Ｘ射线底片的高分辨观测装置制造方法及图纸

工业Ｘ射线底片的高分辨观测装置涉及拍摄和数字化装置，用于实现对工业焊缝检测Ｘ射线底片的数字化处理。本装置包括光源（１）、三可变镜头（３）、与镜头（３）相连的数码摄像头（６）、与数码摄像头（６）连接的计算机（１０），还包括聚光罩（２）、移动机构、对焦机构、步进电机控制器（９）；并且，所述计算机（１０）含有清晰度判断及自动调焦程序。采用均匀ＬＥＤ强光透射底片提供照明，并且使用三可变微距镜头和工业用面阵数码摄像头对底片采像，采集图像实时传送至计算机。操作者可以通过计算机发出控制指令，驱动运动系统，实现对底片采像的缩放，以观察底片的局部细节。在缩放过程中，计算机通过清晰度判断和自动对焦算法，驱动对焦机构，实现实时自动对焦，保证缩放过程中的图像不失真。（*该技术在2019年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
工业Ｘ射线底片的高分辨观测装置，包括光源（１）、镜头（３）、与镜头（３）相连的工业数码摄像头（６）、与数码摄像头（６）连接的计算机（１０）；其特征在于：该装置还包括位于光源（１）前面的可放置工业Ｘ射线底片的聚光罩（２）、能使数码摄像头（６）移动的移动机构、能够对镜头调焦的对焦机构、在计算机控制下可驱动移动机构和对焦机构的步进电机控制器（９）；其中，所述聚光罩（２）由漫反射透光板或菲涅尔透镜及框架构成；移动机构包括可安置数码摄像头（６）的升降滑块（７）、与升降滑块（７）通过丝杠连接的平移台（８）、带动丝杠旋转的步进电机（５Ａ）；所述对焦机构为步进电机（５Ｂ）通过对焦齿轮组合（４）带动镜头（３）调焦；所述步进电机控制器（９）与步进电机（５Ａ、５Ｂ）及计算机连接。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：闫志鸿，刘阳，宋永伦，
申请(专利权)人：北京工业大学，
类型：实用新型
国别省市：11[中国|北京]