【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及摄影测量及图像处理,尤其涉及一种圆盘双刻度识别方法、系统及转台。
技术介绍
1、转台是一种复杂的光电一体的测量设备,用于提供高精度的目标指向。基于转动轴的数量,转台可以分为单轴转台,双轴转台以及三轴转台和多轴转台。转台广泛应用于摄影测量,工业生产和科学研究中。运动目标的跟踪测量,战车舰船的末端防御系统等都需要用到转台
2、转台的精度直接影响到测量的精度和任务的成败,为了提高转台的精度,一般都是通过提高机械加工精度,改进转台的结构,使用高精度的编码盘等方式来减少角度误差。
3、在实际的测量任务中,为了获得目标的实际方位,需要先对转台进行标定。标定过程中,会使用一些合作标志,通过这些标志将转台角度和空间中的实际方位联系起来。现在的转台标定方法需要在距离转台一定距离的地方设置多个合作标志,且每个合作标志都需要获得其三维坐标,整体过程较为复杂,操作人员实时标定的整体时间也比较长。
4、如果在转台上安装刻度,通过摄影装置拍摄刻度,就能获得精确的转台旋转角度,能够为转台的标定提供良好的标定基础。如果
...【技术保护点】
1.一种圆盘双刻度识别方法,其特征在于,包括以下步骤:
2.根据权利要求1所述的圆盘双刻度识别方法,其特征在于,每两条主刻度线之间的夹角相等;每两条副刻度线之间的夹角相等。
3.根据权利要求2所述的圆盘双刻度识别方法,其特征在于,每两条副刻度线之间的夹角小于每两条主刻度线之间的夹角。
4.根据权利要求1所述的圆盘双刻度识别方法,其特征在于,步骤S2中,所述根据直线段与第二长刻度线的夹角去除非主刻度线和非副刻度线包括:
5.根据权利要求4所述的圆盘双刻度识别方法,其特征在于,步骤S3中,所述区分主刻度线和副刻度线包括:
...【技术特征摘要】
1.一种圆盘双刻度识别方法,其特征在于,包括以下步骤:
2.根据权利要求1所述的圆盘双刻度识别方法,其特征在于,每两条主刻度线之间的夹角相等;每两条副刻度线之间的夹角相等。
3.根据权利要求2所述的圆盘双刻度识别方法,其特征在于,每两条副刻度线之间的夹角小于每两条主刻度线之间的夹角。
4.根据权利要求1所述的圆盘双刻度识别方法,其特征在于,步骤s2中,所述根据直线段与第二长刻度线的夹角去除非主刻度线和非副刻度线包括:
5.根据权利要求4所述的圆盘双刻度识别方法,其特征在于,步骤s3中,所述区分主刻度线和副刻度线包括:
6.根据权利要求5所述的圆盘双刻度识别方法,其特征在于,所述采用k-means聚类算法区分主刻度线和副刻度线...
【专利技术属性】
技术研发人员:向绍华,胡柳,杨罡,刘坤杰,曹动,
申请(专利权)人:湖南科天健光电技术有限公司,
类型:发明
国别省市:
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