一种通过单片机控制线圈定量加磁的方法技术

本发明专利技术公开了磁场定量测试技术领域的一种通过单片机控制线圈定量加磁的方法，所述方法包括如下步骤：S1、单片机产生可编程控制的DAC电压，包括；S2、放大DAC电压；S3、通电线圈产生匀强磁场。首先单片机产生可编程控制的DAC电压，再经过一系列运算放大电路，输出的电流进入两个平行的线圈，两个线圈内产生匀强磁场，该磁场强度与电流成正比，该方法可运用于各种磁场定量测试中。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于磁场定量测试，尤其涉及一种通过单片机控制线圈定量加磁的方法。

技术介绍

1、霍尔传感器芯片工作的基本原理是利用霍尔效应检测磁场的存在和朝向，那么在其测试过程中磁开关点就是一个极其重要的参数，同时，在不同的磁场强度中芯片不同的性能参数也是测试中必须得到的。鉴于此，有必要提出一种通过单片机控制线圈定量加磁的方法。

技术实现思路

1、针对上述情况，为克服现有技术的缺陷，本专利技术提出一种通过单片机定量产生匀强磁场的方法，将其与霍尔传感器芯片的测试结合起来就能得到芯片的定量参数。

2、为了实现上述目的，采用了如下技术方案：本专利技术提供了一种通过单片机控制线圈定量加磁的方法，所述方法包括如下步骤：

3、s1、单片机产生可编程控制的dac电压，包括：

4、s101、设置通道输出电压；

5、s102、通过控制dac1和dac2的输出电压，控制输出的正负；

6、s2、放大dac电压：产生的dac电压经过电路，放大后输出稳定的电流到亥姆霍兹线圈，电路第本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种通过单片机控制线圈定量加磁的方法，其特征在于：所述方法包括如下步骤：

2.根据权利要求1所述的一种通过单片机控制线圈定量加磁的方法，其特征在于：所述步骤S101具体为：

3.根据权利要求2所述的一种通过单片机控制线圈定量加磁的方法，其特征在于：所述步骤S102具体为：

4.根据权利要求3所述的一种通过单片机控制线圈定量加磁的方法，其特征在于：所述步骤S2中设定输入的DAC电压为V1，输出电压为V2，亥姆霍兹线圈的电阻为R0，那么根据电路原理分析有以下关系:

5.根据权利要求4所述的一种通过单片机控制线圈定量加磁的方法，其特征在于：所...

【技术特征摘要】

1.一种通过单片机控制线圈定量加磁的方法，其特征在于：所述方法包括如下步骤：

2.根据权利要求1所述的一种通过单片机控制线圈定量加磁的方法，其特征在于：所述步骤s101具体为：

3.根据权利要求2所述的一种通过单片机控制线圈定量加磁的方法，其特征在于：所述步骤s102具体为：

4.根据权利要求3所述的一种通...

【专利技术属性】
技术研发人员：彭蕾，
申请(专利权)人：上海鑫雁微电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：