【技术实现步骤摘要】
本揭示的实施例是关于一种设计规则检查方法、电子设计系统及机器可读媒体，特别是关于一种将规则或操作群聚的设计规则检查方法、电子设计系统及机器可读媒体。
技术介绍
1、集成电路(integrated circuit，ic)行业生产多种模拟及数字半导体装置，以解决不同领域中的问题。半导体工艺技术节点的发展已逐渐减小组件尺寸，并收紧间距，导致晶体管密度逐渐增加。ic逐渐变得更小。
2、物理验证是通过电子设计自动化(electronic design automation，eda)软件工具验证ic布局设计以确保正确的电气及逻辑功能性以及可制造性的工艺。验证涉及设计规则检查(design rule check，drc)，drc验证ic布局是否满足技术规定的约束。drc验证化学机械研磨(chemical-mechanical polishing，cmp)的层密度、布局与原理图(电路布局验证(lvs)ic布局设计的功能性)、逻辑互斥或(xor)等。drc是为了确认所需修改已完成，且未进行任何非所需修改。在天线检查的使用案例中，drc判定在i...
【技术保护点】
1.一种执行一设计规则检查的方法，其特征在于，该方法包含以下步骤：
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，其中当该将所述多个规则或所述多个运算中的该至少一者群聚未能产生所述多个群聚运算或所述多个群聚规则中的至少一者时，该方法进一步包含执行一数目的多个迭代的步骤，所述多个迭代包含：
3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，其进一步包含实施一第三迭代并在自迭代的所述多个剩余运算排除一额外运算之后进行该将所述多个规则或所述多个运算中的该至少一者群聚。
4.如权利要求2所述的方法，其特征在于，其进一步包含以下步骤：
5.一种电...
【技术特征摘要】
1.一种执行一设计规则检查的方法，其特征在于，该方法包含以下步骤：
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，其中当该将所述多个规则或所述多个运算中的该至少一者群聚未能产生所述多个群聚运算或所述多个群聚规则中的至少一者时，该方法进一步包含执行一数目的多个迭代的步骤，所述多个迭代包含：
3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，其进一步包含实施一第三迭代并在自迭代的所述多个剩余运算排除一额外运算之后进行该将所述多个规则或所述多个运算中的该至少一者群聚。
4.如权利要求2所述的方法，其特征在于，其进一步包含以下步骤：
5.一种电子设计自动化系统，其特征在于，其包含：
6.如权利要求5所述的电子设计自动化系统，其特征在于，其中该机器可读媒体进一步包括一校正错误应用程序，该校正错误应用程序用以修改该...
【专利技术属性】
技术研发人员：廖家骏，戴爽，陈雅文，吴孟轩，
申请(专利权)人：台湾积体电路制造股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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