一种异步并发测试方法及系统、计算设备、介质技术方案

本申请提供了一种异步并发测试方法及系统、计算设备、介质，所述方法包括：通过夹持设备移动被测器件就位某测试站进行测试，并将获取的被测器件的身份标识发送到测试主机；当某测试站为第一测试站时，测试主机将被测器件的身份标识和第一测试站的测试结果合并保存于测试结果队列；当某测试站为第N+1(N≥1)测试站时，测试主机根据身份标识在测试结果队列中查找对应该身份标识的测试结果，并将第N+1测试站的测试结果与查找到的测试结果合并保存于测试结果队列。本申请利用被测器件携带的身份标识，通过测试结果队列对被测器件在各测试站的测试结果进行合并保存，适用于多个测试站的异步并发测试场景，兼容各种夹持设备及测试流程。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及集成电路测试，特别涉及一种异步并发测试方法及系统、计算设备、介质。

技术介绍

1、在集成电路测试领域，对复杂的电子器件通常需要测试非常多的参数，例如测试ic的性能参数，测试mosfet的uis(雪崩耐量测试)、热阻、驱动电容和驱动电阻等参数，这些参数可以采用由多个测试硬件(或称为测试站)组成的并发测试系统实现并发测试，从而节省测试成本及测试时间，提高测试效率。

2、然而现有的并发测试系统通常为同步测试系统，即由同一个机械手控制每个测试站的被测器件进行同步转动，例如公开号为cn110658394a的专利技术专利公开了一种多站并发测试方法，包括控制站和分别与控制站通讯连接的复数个测试站，不同的测试站用于测试被测器件的部分参数，并将所述参数提供给控制站；还包括与所述控制站通讯连接的机械手，用于传送各被测器件依次就位各测试站。在该多站并发测试系统中，机械手为转盘式机械手，其根据控制站的测试信号同步传送多个被测器件，每次转动会将当前测试站的被测器件移动到下一测试站。这种多站并发测试系统对pick-place(挑选-放置)式的夹持设备的兼容性较差本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种异步并发测试方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测试主机的查找与合并保存的过程具体包括：

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，完成所述被测器件的测试结果的合并保存后，还包括：

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，清除第N+1测试站的子队列中包含的位于该保存位置标识之前的其他被测器件在第N测试站的测试结果的保存位置标识之后，还包括：

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测试主机的查找过程具体包括：

7....

【技术特征摘要】

1.一种异步并发测试方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测试主机的查找与合并保存的过程具体包括：

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，完成所述被测器件的测试结果的合并保存后，还包括：

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，清除第n+1测试站的子队列中包含的位于该保存位置标识之前的其他被测器件在第n测试站的测试结果的保存位置标识之后，还包括：

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测试主机的查找过程具体包括：

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测试结果队列的长度根据被测器件的数量和测试站的数量进行动态配置...

【专利技术属性】
技术研发人员：尹诗龙，王庆泉，
申请(专利权)人：北京华峰测控技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：