【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及仿真验证，具体涉及一种基于标尺工具的波形图标注方法及系统。
技术介绍
1、在集成电路（ic）芯片的开发设计过程中，通常需要对芯片的功能进行仿真验证。在仿真验证环节会得到信号的波形图，ic验证工程师需要在波形图上查找相关信号来检查波形是否符合预期。
2、信号的波形图属于图形化信息，在分析这一类信息时ic验证工程师需要将图形化信息在大脑中处理为具体的信号逻辑、信号值等；同时，在使用波形图中往往还需要从众多信号中定位所需的信号，和/或从时间轴中找到需要的关键时间点，如此才能得到想要分析的波形图。但是，前述分析波形图的整个过程都依赖于人工完成，需要耗费ic验证工程师大量的时间，并且分析过程中容易出现遗漏，这就导致波形图分析效率较低和波形图分析准确度较差。
技术实现思路
1、有鉴于此，本专利技术实施例提供一种基于标尺工具的波形图标注方法及系统，以解决ic验证工程师在分析波形图时存在的波形图分析效率较低和波形图分析准确度较差等问题。
2、为实现上述目的，本专利技术...
【技术保护点】
1.一种基于标尺工具的波形图标注方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述波形图窗口中显示所述标尺信息，包括：
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，显示所述标尺信息的过程，包括：
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述标尺信息中的文本的显示内容包括比特值和/或位序和/或其他字符串。
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，当所述标尺信息中的文本的显示内容为位序时，所述文本具有位序显示顺序，所述位序显示顺序为高位序显示在前或低位序显示在前。
6.根据权利要...
【技术特征摘要】
1.一种基于标尺工具的波形图标注方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述波形图窗口中显示所述标尺信息，包括：
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，显示所述标尺信息的过程，包括：
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述标尺信息中的文本的显示内容包括比特值和/或位序和/或其他字符串。
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，当所述标尺信息中的文本的显示内容为位序时，所述文本具有位序显示顺序，所述位序显示顺序为高位序显示在前或低位序显示在前。
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据预设规则，...
【专利技术属性】
技术研发人员：丁柯，刘永萍，张馨月，
申请(专利权)人：北京芯愿景软件技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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