【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及断路器模组制造，特别涉及一种老化测试系统。
技术介绍
1、现有的半自动校准和功能测试设备需要人工将产品放入每个工位的测试夹具中；需要根据不同的产品型号调取或设置不同测试参数；半自动校准和功能测试设备测试结束后需人工记录测试结果，并将产品从测试治具中取下；半自动老化设备需要人工将固定治具推入插座；半自动老化设备需要人工记录时间，时间到后人工拉出固定治具；半自动老化设备测试过程中，需人工观察测试中的产品状态，人工将不良品挑出；半自动老化设备测试数据没有记录存储；需人工将产品转移到不同测试设备。
技术实现思路
1、本专利技术的主要目的是提出一种老化测试系统，旨在提高自动化程度以及操作便利性。
2、为实现上述目的，本专利技术提出的一种老化测试系统，包括：
3、断路器模组装置，所述断路器模组装置包括治具以及定位间隔设置在所述治具上的多个断路器模组；
4、输送设备，所述输送设备与所述断路器模组装置连接，所述输送设备包括第一输送装置、第二输送装置和升降装置，所述第一输送装置位于所述第二输送装置的上方，所述第一输送装置设有上机工位及下机工位，所述第一升降装置和所述第二升降装置在升降过程中分别连接所述第一输送装置和所述第二输送装置，所述第一升降装置用于将所述断路器模组装置从第二输送装置上行到第一输送装置，所述第二升降装置用于将所述断路器模组装置从第一输送装置下行到第二输送装置；
5、自动扫码设备，位于所述第一输送装置的传输路径上，所述自动
6、自动校准设备，设于所述第一输送装置的传输路径上，并位于所述自动扫码设备的下游，所述自动校准设备用于对扫码后的断路器模组进行校准；
7、老化测试设备，设于所述第一输送装置的传输路径上，并位于所述自动校准设备的下游，所述老化测试设备用于对校准后的断路器模组进行老化测试；
8、自动功能测试设备，设于所述第一输送装置的传输路径上，并位于所述老化测试设备的下游，所述自动功能测试设备用于对老化测试的断路器模组进行功能测试；
9、自动分拣装置，设于所述第一输送装置的传输路径上，位于所述自动功能测试设备的下游和所述下机工位的上游，用于对校准、老化和功能测试后的所述断路器模组进行分拣。
10、在一实施方式中，所述自动扫码设备包括读码装置和调准机架装置，所述读码装置设置在所述调准机架装置上，所述第一输送装置用于将所述断路器模组装置传输至所述读码装置处，所述读码装置用于读取所述断路器模组装置上的编号信息。
11、在一实施方式中，所述调准机架装置包括调准机架机构和定位调整机构，所述定位调整机构安装在所述调准机架机构上，所述定位调整机构位于所述第一输送装置的传输路径上；
12、所述读码装置至少包括第一扫码器机构、第二扫码器机构和第三扫码器机构，所述第一扫码器机构设置在所述治具的运动路径上，所述第二扫码器机构和所述第三扫码器机构间隔设置在所述断路器模组的传输路径上，所述第一扫码器机构、所述第二扫码器机构以及所述第三扫码器机构分别用于识别所述治具和多个所述断路器模组的编号信息。
13、在一实施方式中，所述自动校准设备包括校准升降装置、校准测试装置和自动校准机架，所述自动校准机架位于所述第一输送装置的传输路径上，所述校准升降装置和所述校准测试装置分别安装在所述自动校准机架上，所述校准升降装置与所述校准测试装置驱动连接，用以驱动所述校准测试装置进行升降运动对所述断路器模组装置进行测试。
14、在一实施方式中，所述校准升降装置包括第一驱动组件和校准升降组件，所述第一驱动组件和所述校准升降组件安装在所述自动校准机架上，所述第一驱动组件驱动连接所述校准升降组件，所述校准升降组件与所述校准测试装置连接，所述校准升降组件进行升降运动，以用于带动所述校准测试装置进行升降运动对所述断路器模组装置进行测试。
15、在一实施方式中，所述校准测试装置包括校准测试电极组件、第二驱动组件、第三驱动组件、第一安装台以及拨动杆，所述第二驱动组件和所述第三驱动组件安装在所述安装台上，所述安装台连接于所述校准升降组件，所述第二驱动组件与所述校准测试电极组件驱动连接，所述第三驱动组件与所述拨动杆驱动连接，所述第二驱动组件驱动所述校准测试电极组件与所述断路器模组连接，以用于对所述断路器模组进行测试，所述第三驱动组件驱动所述拨动杆关闭所述断路器模组。
16、在一实施方式中，所述校准测试电极组件包括第一校准测试电极、第二校准测试电极、第三校准测试电极和第四校准测试电极，所述第二驱动组件包括第二驱动件、第三驱动件、第一联动轴、第二联动轴、第一联动板、第二联动板、第一绝缘件、第二绝缘件、第三绝缘件和第四绝缘件；
17、所述第二驱动件驱动连接所述第一联动板，所述第一联动轴分别连接所述第一联动板和所述第一绝缘件，所述第一校准测试电极连接于所述第一绝缘件；
18、所述第三驱动件驱动连接所述第二联动板，所述第二联动轴分别连接所述第二联动板和所述第二绝缘件，所述第二校准测试电极连接于所述第二绝缘件；
19、所述第一联动轴穿设所述第二绝缘件连接所述第三绝缘件，所述第二联动轴穿设所述第三绝缘件连接所述第四绝缘件，且所述第三校准测试电极连接于所述第三绝缘件，所述第四校准测试电极连接于所述第四绝缘件；
20、所述第一联动板和所述第二联动板相对设置，所述第二驱动件驱动所述第一联动板与所述第三驱动件驱动所述第二联动板的运动方向相反，以用于带动所述第一校准测试电极和所述第二校准测试电极朝相反方向运动，以及带动所述第三校准测试电极和所述第四校准测试电极朝相反方向运动。
21、在一实施方式中，所述老化测试设备包括老化测试装置和来料装置，所述老化测试装置位于所述来料装置的一侧，所述来料装置滑动连接在所述第一输送装置上；
22、所述老化测试装置包括多个老化测试仓、朝向所述第一输送装置的一侧设有第一开口的框体、散热循环通道和散热机构，多个所述老化测试仓设于所述框体上，所述老化测试仓朝向所述第一输送装置的一侧具有取料位，所述取料位为第一开口，所述老化测试仓的顶部开设第二开口，所述框体两端开设有进料口和出料口，所述散热循环通道包括进风口、出风口以及通风口，所述散热机构安装在所述老化测试仓的顶部，位于所述第二开口处，所述出风口位于所述老化测试仓的底部，所述第一开口为所述进风口，所述老化测试仓的两侧间隔设有多个百叶窗，多个所述百叶窗之间的间隙形成所述通风口，所述进风口、所述出风口、所述通风口和所述第二开口相互连通；
23、所述来料装置包括机架、传输机构、y方向驱动机构和z方向驱动机构，所述y方向运动机构安装于所述机架，所述y方向驱动机构与所述z方向驱动机构驱动连接，所述z方向驱动机构与所述传输机构驱动连接，驱动所述传输机构将所述断路器模组装置输送至所述老化测试装置，所述机架滑动连接在所本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种老化测试系统，其特征在于，包括：
2.如权利要求1所述的老化测试系统，其特征在于，所述自动扫码设备包括读码装置和调准机架装置，所述读码装置设置在所述调准机架装置上，所述第一输送装置用于将所述断路器模组装置传输至所述读码装置处，所述读码装置用于读取所述断路器模组装置上的编号信息。
3.如权利要求2所述的老化测试系统，其特征在于，所述调准机架装置包括调准机架机构和定位调整机构，所述定位调整机构安装在所述调准机架机构上，所述定位调整机构位于所述第一输送装置的传输路径上；
4.如权利要求2所述的老化测试系统，其特征在于，所述自动校准设备包括校准升降装置、校准测试装置和自动校准机架，所述自动校准机架位于所述第一输送装置的传输路径上，所述校准升降装置和所述校准测试装置分别安装在所述自动校准机架上，所述校准升降装置与所述校准测试装置驱动连接，用以驱动所述校准测试装置进行升降运动对所述断路器模组装置进行测试。
5.如权利要求4所述的老化测试系统，其特征在于，所述校准升降装置包括第一驱动组件和校准升降组件，所述第一驱动组件和所述校准升降组件安
6.如权利要求5所述的老化测试系统，其特征在于，所述校准测试装置包括校准测试电极组件、第二驱动组件、第三驱动组件、第一安装台以及拨动杆，所述第二驱动组件和所述第三驱动组件安装在所述安装台上，所述安装台连接于所述校准升降组件，所述第二驱动组件与所述校准测试电极组件驱动连接，所述第三驱动组件与所述拨动杆驱动连接，所述第二驱动组件驱动所述校准测试电极组件与所述断路器模组连接，以用于对所述断路器模组进行测试，所述第三驱动组件驱动所述拨动杆关闭所述断路器模组。
7.如权利要求6所述的老化测试系统，其特征在于，所述校准测试电极组件包括第一校准测试电极、第二校准测试电极、第三校准测试电极和第四校准测试电极，所述第二驱动组件包括第二驱动件、第三驱动件、第一联动轴、第二联动轴、第一联动板、第二联动板、第一绝缘件、第二绝缘件、第三绝缘件和第四绝缘件；
8.如权利要求2所述的老化测试系统，其特征在于，所述老化测试设备包括老化测试装置和来料装置，所述老化测试装置位于所述来料装置的一侧，所述来料装置滑动连接在所述第一输送装置上；
9.如权利要求2所述的老化测试系统，其特征在于，所述自动功能测试设备包括测试升降装置、功能测试装置和功能测试机架，所述功能测试机架位于所述第一输送装置的传输路径上，所述测试升降装置和所述功能测试装置分别安装在所述功能测试机架上，所述测试升降装置与所述功能测试装置驱动连接，用以驱动所述功能测试装置进行升降运动对所述断路器模组装置进行测试。
10.如权利要求9所述的老化测试系统，其特征在于，所述功能测试装置包括功能测试电极组件、第四驱动组件、第五驱动组件、第二安装台以及活动杆，所述第四驱动组件和所述第五驱动组件安装在所述第二安装台上，所述第二安装台连接于所述测试升降装置，所述第四驱动组件与所述功能测试电极组件驱动连接，所述第五驱动组件与所述活动杆驱动连接，所述第四驱动组件驱动所述功能测试电极组件与所述断路器模组连接，以用于对所述断路器模组进行测试，所述第五驱动组件驱动所述活动杆关闭所述断路器模组。
11.如权利要求10所述的老化测试系统，其特征在于，所述功能测试电极组件包括第一功能测试电极、第二功能测试电极、第三功能测试电极和第四功能测试电极，所述第四驱动组件包括第四驱动件、第五驱动件、第一活动轴、第二活动轴、第一活动板、第二活动板、第一绝缘部、第二绝缘部、第三绝缘部和第四绝缘部；
...【技术特征摘要】
1.一种老化测试系统，其特征在于，包括：
2.如权利要求1所述的老化测试系统，其特征在于，所述自动扫码设备包括读码装置和调准机架装置，所述读码装置设置在所述调准机架装置上，所述第一输送装置用于将所述断路器模组装置传输至所述读码装置处，所述读码装置用于读取所述断路器模组装置上的编号信息。
3.如权利要求2所述的老化测试系统，其特征在于，所述调准机架装置包括调准机架机构和定位调整机构，所述定位调整机构安装在所述调准机架机构上，所述定位调整机构位于所述第一输送装置的传输路径上；
4.如权利要求2所述的老化测试系统，其特征在于，所述自动校准设备包括校准升降装置、校准测试装置和自动校准机架，所述自动校准机架位于所述第一输送装置的传输路径上，所述校准升降装置和所述校准测试装置分别安装在所述自动校准机架上，所述校准升降装置与所述校准测试装置驱动连接，用以驱动所述校准测试装置进行升降运动对所述断路器模组装置进行测试。
5.如权利要求4所述的老化测试系统，其特征在于，所述校准升降装置包括第一驱动组件和校准升降组件，所述第一驱动组件和所述校准升降组件安装在所述自动校准机架上，所述第一驱动组件驱动连接所述校准升降组件，所述校准升降组件与所述校准测试装置连接，所述校准升降组件进行升降运动，以用于带动所述校准测试装置进行升降运动对所述断路器模组装置进行测试。
6.如权利要求5所述的老化测试系统，其特征在于，所述校准测试装置包括校准测试电极组件、第二驱动组件、第三驱动组件、第一安装台以及拨动杆，所述第二驱动组件和所述第三驱动组件安装在所述安装台上，所述安装台连接于所述校准升降组件，所述第二驱动组件与所述校准测试电极组件驱动连接，所述第三驱动组件与所述拨动杆驱动连接，所述第二驱动组件驱动所述校准测试电极组件与所述断路器模组连接，以用于对所述断路器模组进行测试，所述第三驱动组件驱动所述拨...
【专利技术属性】
技术研发人员：魏首勋，张志忠，刘魁，
申请(专利权)人：深圳曼顿科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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